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阎伟

作品数：3 被引量：1H指数：1
供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇专利
  • 1篇科技成果

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电路测试
  • 1篇电路测试系统
  • 1篇多通道
  • 1篇信息丢失
  • 1篇循环冗余校验
  • 1篇异或
  • 1篇异或运算
  • 1篇冗余
  • 1篇冗余校验
  • 1篇数据序列
  • 1篇数模
  • 1篇数模混合
  • 1篇数模混合电路
  • 1篇总线
  • 1篇校验码
  • 1篇混合电路
  • 1篇集成电路
  • 1篇集成电路测试
  • 1篇集成电路测试...

机构

  • 3篇北京自动测试...

作者

  • 3篇阎伟
  • 2篇高剑
  • 2篇冯建科
  • 2篇郭士瑞
  • 1篇李杰
  • 1篇张生文
  • 1篇朱凯
  • 1篇李强
  • 1篇郭全顺

传媒

  • 1篇电子测试

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2014
  • 1篇2004
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
IC测试系统中多通道参数测试单元的研发被引量：1
2014年
并行测试在集成电路测试系统的发展过程中越来越重要,并行测试的引入,减少了测试时间,降低了成本。我们在原有测试系统的基础上通过设计多通道参数测量单元模块,实现了多芯片供电及多路直流参数并行测试,大大提高了测试效率。
阎伟高剑
关键词：多通道并行测试
一种循环冗余校验方法、设备及存储介质
本发明公开了一种循环冗余校验方法、设备及存储介质。其中，该循环冗余校验方法包括如下步骤：将第一校验码CSA<Sub>i‑1</Sub>和第二校验码CSB<Sub>i‑1</Sub>作为数据序列P<Sub>i</Sub>的...
高剑冯建科郭士瑞袁科学蒋常斌李杰阎伟
文献传递
BC3192VXI数模混合集成电路测试系统
冯建科郭士瑞房征郭全顺张生文李强阎伟朱凯王立葳
项目名称：BC3192 VXI数/模混合集成电路测试系统；所属科学技术领域：集成电路测试；适用范围：BC3192系统是基于当前国际先进VXI总线的数模混合集成电路测试系统，系统的最大优点就是它的软、硬件的开放性和标准化。...
关键词：
关键词：集成电路测试系统VXI总线数模混合电路
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