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阎伟
作品数:
3
被引量:1
H指数:1
供职机构:
北京自动测试技术研究所
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相关领域:
电子电信
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合作作者
高剑
北京自动测试技术研究所
郭士瑞
北京自动测试技术研究所
冯建科
北京自动测试技术研究所
郭全顺
北京自动测试技术研究所
李强
北京自动测试技术研究所
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作者
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阎伟
2篇
高剑
2篇
冯建科
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郭士瑞
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李杰
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张生文
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朱凯
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李强
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郭全顺
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电子测试
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1篇
2014
1篇
2004
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3
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IC测试系统中多通道参数测试单元的研发
被引量:1
2014年
并行测试在集成电路测试系统的发展过程中越来越重要,并行测试的引入,减少了测试时间,降低了成本。我们在原有测试系统的基础上通过设计多通道参数测量单元模块,实现了多芯片供电及多路直流参数并行测试,大大提高了测试效率。
阎伟
高剑
关键词:
多通道
并行测试
一种循环冗余校验方法、设备及存储介质
本发明公开了一种循环冗余校验方法、设备及存储介质。其中,该循环冗余校验方法包括如下步骤:将第一校验码CSA<Sub>i‑1</Sub>和第二校验码CSB<Sub>i‑1</Sub>作为数据序列P<Sub>i</Sub>的...
高剑
冯建科
郭士瑞
袁科学
蒋常斌
李杰
阎伟
文献传递
BC3192VXI数模混合集成电路测试系统
冯建科
郭士瑞
房征
郭全顺
张生文
李强
阎伟
朱凯
王立葳
项目名称:BC3192 VXI数/模混合集成电路测试系统;所属科学技术领域:集成电路测试;适用范围:BC3192系统是基于当前国际先进VXI总线的数模混合集成电路测试系统,系统的最大优点就是它的软、硬件的开放性和标准化。...
关键词:
关键词:
集成电路测试系统
VXI总线
数模混合电路
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