高剑
- 作品数：44 被引量：82H指数：6
- 供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
- 发文基金：北京市自然科学基金北京市教委资助项目国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程更多>>
- 一种用于频率信号发生芯片的修调装置
- 本发明公开了一种用于频率信号发生芯片的修调装置，包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出...
- 高剑冯建科郭士瑞张东李杰蒋常斌于明
- 文献传递
- 基于DSP的存储器测试系统被引量：3
- 2004年
- 介绍了以AD公司推出的高速浮点DSP-TS101为设计平台的存储器测试用图形发生器的原理和实现方法,详细地分析、研究了高速测试存储器的软件、硬件.本测试系统突破了传统测试方法的限制,具有结构紧凑、编程灵活的特点,其测试速度超过了国内存储器测试用图形发生器40MHz的最高速度.
- 高剑刘明亮
- 关键词：内存储器测试系统硬件浮点DSP图形发生器
- 频域反卷积滤波器的因果性的研究被引量：1
- 2001年
- 本文首先介绍了成功应用于现代时域测量中的几种频域反卷积滤波器 .并说明了这些反卷积滤波器元旦是非因果的 .显然 ,滤波器非因果化要影响反卷积的估值 ,因此 ,对反卷积滤波器进行因果化是很必要的 .进而 ,介绍了将这些反卷积滤波器因果化原理和方法 ,并给出了因果化的流程图 .最后 ,对常用的反卷积滤波器的因果化进行了仿真研究 ,分别给出了这些反卷积滤波器困晨化前后的滤波效果 .仿真结果表明 。
- 刘明亮陈龙高剑
- 关键词：反卷积滤波器因果性
- 一种用于HDMI接口的测试装置及测试方法
- 本发明公开了一种用于HDMI接口的测试方法及其测试方法，其中，该测试装置包括解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块和集成电路测试仪；其中，逻辑判断模块分别与解码模块、功能测试模块和集成电路测试仪相连接，用于对其他模块进行控...
- 高剑冯建科郭士瑞袁科学蒋常斌李杰
- 文献传递
- 一种WCDMA通用射频测试装置
- 本实用新型公开了一种WCDMA通用射频测试装置，该装置设置在一个金属材质的屏蔽盒，屏蔽盒的侧壁上设置有接口，一个信号发生器通过该接口与屏蔽盒相连，屏蔽盒内设置有WCDMA测试板卡，屏蔽盒外设置有天线，天线通过屏蔽盒上的一...
- 张东高剑李杰于明蒋常斌
- 文献传递
- 满足工艺角覆盖率的模拟运算放大器设计被引量：1
- 2013年
- 电源电压、工艺偏差和温度变化(PVT)对电阻、电容、晶体管、MOS管等的参数和特性都会产生一定的影响,从而影响电路的性能。从满足工艺角覆盖率的角度出发,进行模拟运算放大器的设计,首先采用对称型运算跨导放大器的形式,提高了匹配,提供了更好的失调和CMRR特性;同时采用共集共射输入,提高了输入电阻。其中共射管采用射极负反馈结构增大了线性输入范围,提高转换速率。仿真结果表明,所设计的运算放大器可满足工艺角覆盖率的要求。
- 姜岩峰张东高剑于明
- 关键词：运算放大器
- 在通用自动测试仪上实现SPI存储器测试的方法研究
- 2013年
- 近年SPI存储器已广泛用于各类电子产品和工业测控系统中,但SPI属于串行接口,难以使用算法图形产生器自动产生地址,因此难以在通用自动测试仪上进行测试。本文分析了SPI存储器的结构特点和测试难点,提出了一种基于并行转串行逻辑的SPI存储器算法图形自动产生的方法,并以SPI EEPROM芯片AT25HP512为例,实现了测试程序开发。实验证实,该方法可以克服SPI存储器地址算法自动产生的困难,对该类芯片测试具有通用性。
- 高剑于明
- 关键词：自动测试仪串行接口
- 基于ATE的MCU芯片并行测试技术研究被引量：8
- 2020年
- 讨论了MCU芯片测试需求及难点,针对测试过程中可能会遇到的接口板通用性和信号完整性问题给出解决方案。以FPGA为主控器件设计继电器矩阵控制电路,并通过阻抗匹配和等延时设计使多通道信号达到可靠性要求。解决了测试系统接口板的单一性、专用性问题,缩短了开发周期。通过自动测试系统验证,MCU芯片并行测试实验中功能匹配测试、频率测试和参数测试可独立使用测试资源,实现了完全并行测试,与传统串行测试方法相比节约了测试时间,提高了芯片测试效率。
- 刘媛媛高剑蒋常斌
- 关键词：并行测试
- IC测试系统中多通道参数测试单元的研发被引量：1
- 2014年
- 并行测试在集成电路测试系统的发展过程中越来越重要,并行测试的引入,减少了测试时间,降低了成本。我们在原有测试系统的基础上通过设计多通道参数测量单元模块,实现了多芯片供电及多路直流参数并行测试,大大提高了测试效率。
- 阎伟高剑
- 关键词：多通道并行测试
- 一种数字集成电路测试适配器
- 本实用新型公开了一种数字集成电路测试适配器，用于ICN83系列集成电路芯片的测试。该数字集成电路测试适配器中，主机板具有与集成电路测试系统的机头相对应的形状；主机板为多层板，设有独立的电源层和地层，地层位于主机板的中间位...
- 李杰刘春来黎云浩蒋常斌高剑于明
- 文献传递
