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冯建科

作品数：27 被引量：47H指数：3
供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 12篇专利
  • 9篇期刊文章
  • 3篇会议论文
  • 3篇科技成果

领域

  • 9篇自动化与计算...
  • 8篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 12篇电路
  • 10篇集成电路
  • 9篇电路测试
  • 8篇信号
  • 8篇集成电路测试
  • 7篇测试系统
  • 6篇芯片
  • 4篇电路测试系统
  • 4篇总线
  • 4篇集成电路测试...
  • 4篇FPGA
  • 3篇数模
  • 3篇数模混合
  • 3篇可编程逻辑
  • 3篇集成电路测试...
  • 3篇管脚
  • 3篇VXI总线
  • 3篇FPGA测试
  • 3篇FPGA器件
  • 3篇并行测试

机构

  • 27篇北京自动测试...
  • 2篇北京大学

作者

  • 27篇冯建科
  • 18篇郭士瑞
  • 11篇高剑
  • 10篇李杰
  • 8篇张东
  • 5篇于明
  • 2篇冯建华
  • 2篇张生文
  • 2篇李瑞麟
  • 2篇阎伟
  • 2篇生晓坤
  • 1篇唐恒标
  • 1篇朱凯
  • 1篇李强
  • 1篇王鑫
  • 1篇郭全顺
  • 1篇张建强

传媒

  • 3篇电子测量与仪...
  • 2篇电子测试
  • 1篇仪器仪表学报
  • 1篇计算机与数字...
  • 1篇微电子学
  • 1篇现代电子技术
  • 1篇2002年全...
  • 1篇测控、计量与...

年份

  • 1篇2019
  • 2篇2018
  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 2篇2013
  • 3篇2012
  • 2篇2011
  • 1篇2010
  • 3篇2009
  • 2篇2008
  • 1篇2007
  • 2篇2006
  • 1篇2005
  • 4篇2004
  • 1篇2002
共 27 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法
本发明公开了一种面向复杂可编程逻辑器件的批量测试方法。该方法针对CPLD需要先编程开发才能使用的特点，将CPLD的编程与测试统一起来，由ATE实现CPLD的批量测试。用CPLD开发软件得到针对故障模型的JTAG编程文件及...
郭士瑞冯建科张东高剑蒋常斌李瑞麟李杰于明生晓坤
文献传递
基于测试系统的FPGA逻辑资源的测试被引量：15
2006年
FPGA在许多领域已经得到广泛应用,其测试问题也显得越来越突出。文章针对基于SRAM结构FPGA的特点,以Xilinx公司的XC4000系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在BC3192V50测试系统上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试。它是一种基于测试系统的通用的FPGA配置和测试方法。
唐恒标冯建华冯建科
关键词：FPGA测试可编程逻辑测试系统
VXI数模混合信号集成电路测试系统被引量：6
2005年
数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统 ,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目 (VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化 )为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATEIC测试系统 ,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。
冯建科张生文郭士瑞
关键词：集成电路测试系统数模混合VXI总线软硬件设计ATE
一种用于频率信号发生芯片的修调装置
本发明公开了一种用于频率信号发生芯片的修调装置，包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出...
高剑冯建科郭士瑞张东李杰蒋常斌于明
文献传递
FPGA器件在高速测试系统上的测试方法
FPGA是可由用户配置的高密度ASIC芯片,本文以Xilinx公司的RAM型FPGA为例,介绍了一种用高速测试系统实现FPGA器件测试的方法.阐述了如何用测试仪对FPGA进行在线配置、功能测试和参数测试.
郭士瑞冯建科房征
关键词：FPGA测试
文献传递
一种用于HDMI接口的测试装置及测试方法
本发明公开了一种用于HDMI接口的测试方法及其测试方法，其中，该测试装置包括解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块和集成电路测试仪；其中，逻辑判断模块分别与解码模块、功能测试模块和集成电路测试仪相连接，用于对其他模块进行控...
高剑冯建科郭士瑞袁科学蒋常斌李杰
文献传递
J750到BC3192测试程序转换方法
2009年
由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。
郭士瑞冯建科
关键词：测试软件开发
串行A/D转换器MAX186的测试方法
MAX186是一个12位、低功耗、8个通道的高速串行数据采集芯片,在自动测试、医疗仪器和高精度控制过程中有较为广泛的应用.串行A/D转换器的测试难度比其它器件大,本文结合MAX186的特点,提出了一种串行A/D转换器的测...
郭士瑞冯建科
关键词：数据采集芯片
文献传递
用失效捕捉法测试AC参数
2009年
本文介绍了数字集成电路测试系统的工作原理,提出了两种AC参数的定量测试方法:二分步长测试和on the fly测试。通过预先设置驱动/比较时间和测试向量、执行功能测试、从结果存储器获取"通过/失效"结果,可以计算出AC参数的量值。测试一个AC参数,二分步长测试方法需多次执行测试向量,on the fly测试法仅需执行一次测试,但要求测试系统具备on the fly资源。两种方法的测试精度相同,均能有效解决AC参数的定量测试,后者更适于高速器件的测试。文中介绍的方法在BC3192集成电路测试系统上对MAX488器件进行测试,在250 kHz的测试频率下,两种方法测得的tSKEW参数结果近似相等,具有很好的一致性。
郭士瑞冯建科高剑
关键词：集成电路测试系统
基于自动测试系统的ADC测试开发被引量：18
2007年
A/D转换器(ADC)是混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着器件时钟频率的不断提高,如何高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今ADC测试研究的重点。本文阐述了ADC的静态和动态参数测试,并在自动测试系统的ADC测试过程中,深入分析了ADC测试环境的配置,从而实现了一种低成本、高可靠性的ADC计算机辅助测试方法,并在BC3192V50测试系统上得到了验证。
张建强冯建华冯建科
关键词：模拟数字转换器计算机辅助测试
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