您的位置： 专家智库 > >

郭士瑞

作品数：24 被引量：28H指数：3
供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
发文基金：北京市自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 10篇期刊文章
  • 8篇专利
  • 3篇会议论文
  • 3篇科技成果

领域

  • 10篇电子电信
  • 7篇自动化与计算...
  • 1篇电气工程

主题

  • 8篇电路
  • 6篇信号
  • 6篇集成电路
  • 5篇电路测试
  • 5篇集成电路测试
  • 5篇测试设备
  • 4篇芯片
  • 4篇测试系统
  • 3篇电路测试系统
  • 3篇在线编程
  • 3篇自动测试设备
  • 3篇逻辑器件
  • 3篇可编程逻辑
  • 3篇可编程逻辑器...
  • 3篇集成电路测试...
  • 3篇编程
  • 3篇FPGA器件
  • 3篇并行测试
  • 3篇测试技术
  • 2篇信号处理

机构

  • 24篇北京自动测试...
  • 1篇重庆大学

作者

  • 24篇郭士瑞
  • 18篇冯建科
  • 12篇高剑
  • 8篇李杰
  • 7篇张东
  • 4篇于明
  • 3篇李瑞麟
  • 2篇张生文
  • 2篇阎伟
  • 2篇生晓坤
  • 1篇曹泽翰
  • 1篇赵振峰
  • 1篇姜岩峰
  • 1篇朱凯
  • 1篇李强
  • 1篇陈庆方
  • 1篇郭全顺
  • 1篇韩东

传媒

  • 3篇电子测量与仪...
  • 2篇电子测试
  • 2篇电子测量技术
  • 2篇微电子测试
  • 1篇计算机与数字...
  • 1篇2002年全...
  • 1篇测控、计量与...

年份

  • 1篇2019
  • 2篇2018
  • 2篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2013
  • 3篇2012
  • 1篇2010
  • 3篇2009
  • 2篇2008
  • 1篇2005
  • 4篇2004
  • 1篇2002
  • 2篇1996
共 24 条 记 录，以下是 1-10
全选 清除 导出
排序方式：
FLASH存储器的测试方法被引量：10
2008年
随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。FLASH芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片的测试要求也越来越高。本文介绍了FLASH存储器的基本结构和测试原理,特别是详细分析、研究了可应用于FLASH芯片的测试算法,对算法进行了部分改进与综合。测试实验表明,在与传统的棋盘格测试方法相同的故障覆盖率时,本方法的测试效率更高。
高剑郭士瑞蒋常斌
关键词：存储器测试FLASH
内建自测试技术(BIST)的测试产生和响应压缩方法被引量：1
1996年
本文分析了内建自测试技术(BIST)的测试产生和响应压缩的各种方法和结构,并提出了适用于层次化自测试结构的BIST测试产生和响应压缩方法。
郭士瑞赵振峰陈庆方
关键词：内建自测试技术BIST
J750到BC3192测试程序转换方法
2009年
由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。
郭士瑞冯建科
关键词：测试软件开发
串行A/D转换器MAX186的测试方法
MAX186是一个12位、低功耗、8个通道的高速串行数据采集芯片,在自动测试、医疗仪器和高精度控制过程中有较为广泛的应用.串行A/D转换器的测试难度比其它器件大,本文结合MAX186的特点,提出了一种串行A/D转换器的测...
郭士瑞冯建科
关键词：数据采集芯片
文献传递
一种基于自动测试设备的可编程逻辑器件的编程开发方法被引量：1
2009年
本文讨论了具有边界扫描接口的可编程逻辑器件在线编程模型建立的途径,并以BC3192V50高速数模混合测试系统为平台,介绍了ALTERA公司的EPM7512在线编程以及测试过程。本文论述的在线模型建立方法适用于一切通过边界扫描链进行配置的大规模集成电路,为可配置集成电路的测试提供了前提条件。该方法经BC3192集成电路测试系统使用结果表明是有效的。
王立葳郭士瑞
关键词：可编程逻辑器件在线编程自动测试设备
用失效捕捉法测试AC参数
2009年
本文介绍了数字集成电路测试系统的工作原理,提出了两种AC参数的定量测试方法:二分步长测试和on the fly测试。通过预先设置驱动/比较时间和测试向量、执行功能测试、从结果存储器获取"通过/失效"结果,可以计算出AC参数的量值。测试一个AC参数,二分步长测试方法需多次执行测试向量,on the fly测试法仅需执行一次测试,但要求测试系统具备on the fly资源。两种方法的测试精度相同,均能有效解决AC参数的定量测试,后者更适于高速器件的测试。文中介绍的方法在BC3192集成电路测试系统上对MAX488器件进行测试,在250 kHz的测试频率下,两种方法测得的tSKEW参数结果近似相等,具有很好的一致性。
郭士瑞冯建科高剑
关键词：集成电路测试系统
国产IC设备测试矢量转换工具
张东姜岩峰李瑞麟郭士瑞哈文慧王传延
该成果属于电子信息技术领域，其技术创新点包括通过消毛刺、波形剪切、波形对齐、波形衍生等处理仿真结果，消除影响矢量生成的因素；采用时间流技术，提出了定时提取和管理流程，实现了周期化分割算法；通过各端口数据同步技术和流水线处...
关键词：
关键词：集成电路设计测试设备
DSP功能测试方法研究被引量：3
2010年
随着数字信号处理器(DSP)性能和集成度迅速地提高,DSP产品得到了日趋广泛的应用。文章首先介绍了DSP的基本结构,其次详细分析了DSP功能测试的方法,特别是研究了由测试系统模拟外部程序存储器加载程序的并行测试算法,最后讨论了为使用相同指令集的DSP自动生成测试图形的算法。上述算法具有直观、编程灵活、开发周期短的特点。
高剑冯建科郭士瑞
关键词：数字信号处理器并行测试
VXI数模混合信号集成电路测试系统被引量：6
2005年
数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统 ,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目 (VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化 )为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATEIC测试系统 ,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。
冯建科张生文郭士瑞
关键词：集成电路测试系统数模混合VXI总线软硬件设计ATE
一种用于频率信号发生芯片的修调装置
本发明公开了一种用于频率信号发生芯片的修调装置，包括高速计数电路、2选1电路、修调译码电路和修调控制电路；高速计数电路一方面接收来自集成电路自动测试设备的寄存器输入信号，另一方面接收来自待测试的频率信号发生芯片的频率输出...
高剑冯建科郭士瑞张东李杰蒋常斌于明
文献传递
全选 清除 导出
共3页<123>
聚类工具0