您的位置: 专家智库 > >

罗俊锋

作品数:9 被引量:17H指数:3
供职机构:北京工业大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国防科技重点实验室基金更多>>
相关领域:金属学及工艺一般工业技术理学电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 4篇会议论文
  • 1篇学位论文

领域

  • 5篇金属学及工艺
  • 3篇一般工业技术
  • 2篇电子电信
  • 2篇理学

主题

  • 5篇合金
  • 3篇电子背散射衍...
  • 3篇形状记忆
  • 3篇形状记忆合金
  • 3篇相变
  • 3篇马氏体
  • 3篇马氏体相
  • 3篇马氏体相变
  • 3篇记忆合金
  • 3篇EBSD分析
  • 2篇应力诱发
  • 2篇应力诱发马氏...
  • 2篇应力诱发马氏...
  • 2篇局域
  • 2篇焊缝
  • 2篇NITI形状...
  • 2篇EBSD
  • 1篇导体
  • 1篇电子衍射
  • 1篇扫描电子显微...

机构

  • 9篇北京工业大学
  • 2篇中航工业北京...
  • 1篇保定金融高等...
  • 1篇中国人民武装...

作者

  • 9篇罗俊锋
  • 5篇王俊忠
  • 4篇吉元
  • 2篇刘志民
  • 2篇张隐奇
  • 2篇毛圣成
  • 2篇韩晓东
  • 1篇曹莹
  • 1篇郭霞
  • 1篇张泽
  • 1篇陈俐
  • 1篇李志国
  • 1篇沈光地
  • 1篇赵林林
  • 1篇李晓延
  • 1篇牛南辉
  • 1篇王晓冬

传媒

  • 2篇电子显微学报
  • 1篇物理学报
  • 1篇中国体视学与...

年份

  • 1篇2009
  • 1篇2007
  • 3篇2006
  • 4篇2005
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
NiTi形状记忆合金疲劳与断裂机制研究
NiTi形状记忆合金由于具有超弹性、形状记忆效应、优异的力学性能与良好的生物相容性现在已成为重要的生物医用材料之一。随着研究的不断深入,NiTi合金的疲劳和断裂成为阻碍其应用的最重要的因素。因此,NiTi记忆合金高周疲劳...
罗俊锋
关键词:镍钛形状记忆合金高周疲劳马氏体相变
文献传递
Al互连线和Cu互连线的显微结构被引量:6
2007年
利用电子背散射衍射(EBSD)技术,测量了由反应离子刻蚀工艺(RIE)制备的Al互连线和大马士革工艺(Damascene)制备的Cu互连线的显微结构,包括晶粒尺寸、晶体学取向和晶界特征.分析了Cu互连线线宽,及Al和Cu互连线退火工艺对互连线显微结构及电徙动失效的影响.
王俊忠吉元王晓冬刘志民罗俊锋李志国
关键词:电子背散射衍射互连线显微结构
Al互连线和Cu互连线的EBSD分析
采用电子背散射衍射(EBSD)技术,对微电子器件VLSI的Al互连线和ULSI的Cu互连线的显微结构进行了分析和对比。Al和Cu互连线的晶粒结构和晶粒取向的形成和发展, 与互连线的制备工艺密切相关,并直接影响着金属化系统...
刘志民罗俊锋王俊忠张隐奇吉元
钛合金焊缝的EBSD分析被引量:7
2005年
采用电子背散射衍射(EBSD)技术,对CO2激光焊接Ti-A l-Nb合金焊缝熔池和热影响区(HAZ)的晶体学取向、晶粒结构及晶界特征进行了测量和分析。此外,EBSD菊池衍射花样质量(IQ)参数表明,经过退火处理后焊缝中的残余应力已基本消除。
罗俊锋吉元曹莹陈俐李晓延
关键词:钛合金焊缝CO2激光焊接
多晶NiTi形状记忆合金中原位应力诱发马氏体相变的研究被引量:1
2006年
毛圣成韩晓东罗俊锋王俊忠张泽WU M H
关键词:NITI形状记忆合金应力诱发马氏体相变NITI记忆合金NITI合金背散射电子衍射
钛铝合金焊缝的EBSD分析
本文采用电子背散射(EBSD)技术,对Ti-23at.%Al-17at.%Nb合金焊缝的熔池区和热影响区(HAZ)的晶粒取向、晶粒结构和生长特征,以及晶界类型进行了测量和分析。钛合金因具有低密度、高强度、耐蚀性,优异的加...
罗俊锋吉元张隐奇李晓延陈俐
文献传递
多晶NiTi形状记忆合金中原位应力诱发马氏体相变的研究
<正>称为神奇金属的 NiTi 形状记忆合金由于具有超弹性和形状记忆效应两个优异的性质而广泛地应用于航空航天、工业、生物医学及日常生活当中。这两个优异性质的物理本质是 NiTi 形状记忆合金中发生的无扩散型可逆马氏体相变...
毛圣成韩晓东罗俊锋王俊忠张泽WU M H
关键词:形状记忆合金马氏体相变微观结构扫描电子显微镜
文献传递
GaN/蓝宝石结构中的局域弹性应变场的EBSD测量
电子背散射衍射(EBSD)技术被广泛用于晶体取向分析。其主要功能是通过收集和标定EBSD菊池衍射花样,进行晶粒取向测量和物相鉴定。由于应变晶体使衍射信息降低、菊池花样质量下降,可通过测量EBSD菊池带的变化来评价弹性和塑...
罗俊锋王俊忠张隐奇吉元牛南辉郭霞沈光地
半导体结构中局域弹性应变场的电子背散射衍射分析被引量:4
2006年
采用扫描电镜中的电子背散射衍射(Electron Backscattering Diffraction,EBSD)技术,对硼掺杂的可动悬空硅薄膜和用于激光二极管(LED)的蓝宝石衬底上异质外延生长GaN层中的弹性应变区进行了测量.将菊池图的图像质量(IQ)和Hough转变强度,以及小角度晶界错配的统计数据作为应力敏感参数,研究了单晶材料系统中,微米~亚微米尺度的晶格畸变状态及局域弹性应变场.EBSD测试获得了硅薄膜窗口区域及LED的GaN外延层中的弹性应变分布.
罗俊锋王俊忠牛南辉赵林林张隐奇郭霞沈光地吉元
关键词:硅薄膜GAN外延层
共1页<1>
聚类工具0