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高剑
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44
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H指数:6
供职机构:
北京自动测试技术研究所
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北京市自然科学基金
北京市教委资助项目
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相关领域:
电子电信
自动化与计算机技术
电气工程
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合作作者
于明
北京自动测试技术研究所
李杰
北京自动测试技术研究所
张东
北京自动测试技术研究所
郭士瑞
北京自动测试技术研究所
冯建科
北京自动测试技术研究所
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于明
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:测试向量 自动测试设备 动力电池组 串行接口 管脚
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李杰
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:集成电路测试仪 主控制器 动力电池组 自动测试设备 ATE
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张东
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:集成电路测试 集成电路 测试向量 测试系统 动力电池组
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郭士瑞
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:集成电路测试系统 并行测试 自动测试设备 在线编程 FPGA器件
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冯建科
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:FPGA 集成电路测试仪 测试系统 FPGA测试 VXI总线
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刘明亮
供职机构:北京工业大学
研究主题:宽带取样示波器 取样示波器 示波器 计量学 带宽
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姜岩峰
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:各向异性腐蚀 硅 集成电路 MEMS JTAG
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刘春来
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:芯片测试 电路板 液晶显示 驱动芯片 RFID
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阎伟
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:并行测试 多通道 存储介质 VXI总线 循环冗余校验
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生晓坤
供职机构:北京自动测试技术研究所
研究主题:测试向量 IC测试 ATE ARM_CORTEX-M3 ARM
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