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闫亮

作品数：1 被引量：2H指数：1
供职机构：京东方科技集团股份有限公司更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇曲面
  • 1篇曲面拟合
  • 1篇TFT-LC...
  • 1篇B样条

机构

  • 1篇京东方科技集...

作者

  • 1篇梁珂
  • 1篇李新国
  • 1篇董友梅
  • 1篇王大巍
  • 1篇唐剑
  • 1篇闫亮

传媒

  • 1篇现代显示

年份

  • 1篇2008
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
B样条曲面拟合在Mura缺陷获取中的应用被引量：2
2008年
TFT-LCDMura缺陷表现为对比度低、亮度区域不均匀、边界模糊,通常大于一个像素,会给观察者带来视觉不适,是一种比较常见的缺陷。长期以来,对Mura缺陷的检测都是由经过训练的专业检验员完成。近年来,研究人员开始研究利用机器来代替人眼检测,但机器如何获取Mura缺陷一直是行业内公认的难题之一。本文提出了基于B样条曲面拟和的方法来获取Mura缺陷信息,并通过对大量真实Mura缺陷样本的检测验证了该方法具有高的获取准确率。
唐剑王大巍李新国梁珂闫亮董友梅
关键词：TFT-LCD曲面拟合B样条
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