您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇液晶
  • 2篇液晶显示
  • 2篇液晶显示面板
  • 2篇云纹
  • 2篇图像
  • 2篇曲面
  • 2篇曲面拟合
  • 2篇缺陷图像
  • 2篇准确率
  • 2篇显示面板
  • 2篇面板
  • 2篇背景图
  • 2篇背景图像
  • 2篇TFT-LC...
  • 2篇B样条

机构

  • 3篇京东方科技集...
  • 1篇北京交通大学

作者

  • 4篇唐剑
  • 3篇梁珂
  • 3篇李新国
  • 3篇董友梅
  • 2篇王大巍
  • 1篇王大巍
  • 1篇闫亮

传媒

  • 1篇现代显示

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 2篇2008
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置
本发明提供了一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置,其中检测方法包括:步骤1.采集所要检测的液晶显示面板的样本图像;步骤2.根据所述样本图像,利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像;步骤3.将所述样...
唐剑王大巍李新国梁珂董友梅
文献传递
B样条曲面拟合在Mura缺陷获取中的应用被引量:2
2008年
TFT-LCDMura缺陷表现为对比度低、亮度区域不均匀、边界模糊,通常大于一个像素,会给观察者带来视觉不适,是一种比较常见的缺陷。长期以来,对Mura缺陷的检测都是由经过训练的专业检验员完成。近年来,研究人员开始研究利用机器来代替人眼检测,但机器如何获取Mura缺陷一直是行业内公认的难题之一。本文提出了基于B样条曲面拟和的方法来获取Mura缺陷信息,并通过对大量真实Mura缺陷样本的检测验证了该方法具有高的获取准确率。
唐剑王大巍李新国梁珂闫亮董友梅
关键词:TFT-LCD曲面拟合B样条
液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置
本发明提供了一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置,其中检测方法包括:步骤1、采集所要检测的液晶显示面板的样本图像;步骤2、根据所述样本图像,利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像;步骤3、将所述样...
唐剑王大巍李新国梁珂董友梅
文献传递
TFT-LCD Mura缺陷检测研究
Mura缺陷是TFT-LCD中一类常见的视觉缺陷,表现为低对比度、非均匀亮度区域,边缘模糊,通常大于一个像素,会给观察者带来视觉不适。同时Mura缺陷也是视觉缺陷中最为复杂和最难检测的,目前行业内通常采用经过专业训练的检...
唐剑
关键词:TFT-LCD曲面拟合B样条
文献传递
共1页<1>
聚类工具0