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梁珂

作品数：7 被引量：2H指数：1
供职机构：京东方科技集团股份有限公司更多>>
相关领域：电子电信交通运输工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 5篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇科技成果

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇交通运输工程

主题

  • 3篇组件
  • 3篇显示装置
  • 3篇基板
  • 3篇基底
  • 2篇液晶
  • 2篇液晶显示
  • 2篇液晶显示面板
  • 2篇云纹
  • 2篇图像
  • 2篇缺陷图像
  • 2篇准确率
  • 2篇显示面板
  • 2篇像素电路
  • 2篇面板
  • 2篇光元件
  • 2篇发光
  • 2篇发光元件
  • 2篇背景图
  • 2篇背景图像
  • 1篇透光率

机构

  • 7篇京东方科技集...

作者

  • 7篇梁珂
  • 7篇李新国
  • 3篇王大巍
  • 3篇董友梅
  • 3篇唐剑
  • 3篇郑克宁
  • 3篇王景泉
  • 1篇王刚
  • 1篇陈旭
  • 1篇皇甫鲁江
  • 1篇王丹
  • 1篇赵继刚
  • 1篇宋省勳
  • 1篇薛建设
  • 1篇李成圭
  • 1篇王章涛
  • 1篇高文宝
  • 1篇王大巍
  • 1篇董学
  • 1篇闫亮

传媒

  • 1篇现代显示

年份

  • 2篇2023
  • 1篇2022
  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2008
共 7 条 记 录，以下是 1-7
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排序方式：
触控显示基板和触控显示装置
一种触控显示基板和触控显示装置，其中，触控显示基板，包括：显示区和非显示区，显示区包括：第一显示区(A1)和第二显示区(A2)，第一显示区(A1)围设在第二显示区(A2)至少一侧；第二显示区(A2)的透光率大于第一显示区...
梁珂仝可蒙方飞颜俊郑克宁王景泉李新国
液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置
本发明提供了一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置，其中检测方法包括：步骤1.采集所要检测的液晶显示面板的样本图像；步骤2.根据所述样本图像，利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像；步骤3.将所述样...
唐剑王大巍李新国梁珂董友梅
文献传递
触控显示基板和触控显示装置
一种触控显示基板和触控显示装置，其中，触控显示基板，包括：显示区和非显示区，显示区包括：第一显示区(A1)和第二显示区(A2)，第一显示区(A1)围设在第二显示区(A2)至少一侧；触控显示基板包括：基底(10)以及依次设...
梁珂仝可蒙方飞颜俊郑克宁王景泉李新国
第五代TFT-LCD关键技术研究
王刚薛建设高文宝皇甫鲁江董学陈旭王丹赵继刚王大巍梁珂李成圭宋省勳林承武王章涛李新国
TFT-LCD技术是一项集光学、电学、材料学、半导体工艺、IC设计等多学科交叉的集成技术。2004年，京东方在建设当时先进的TFT-LCD五代生产线的同时，承担了市科委的重大专项“第五代TFT-LCD关键技术研究”项目，...
关键词：
关键词：半导体工艺
B样条曲面拟合在Mura缺陷获取中的应用被引量：2
2008年
TFT-LCDMura缺陷表现为对比度低、亮度区域不均匀、边界模糊,通常大于一个像素,会给观察者带来视觉不适,是一种比较常见的缺陷。长期以来,对Mura缺陷的检测都是由经过训练的专业检验员完成。近年来,研究人员开始研究利用机器来代替人眼检测,但机器如何获取Mura缺陷一直是行业内公认的难题之一。本文提出了基于B样条曲面拟和的方法来获取Mura缺陷信息,并通过对大量真实Mura缺陷样本的检测验证了该方法具有高的获取准确率。
唐剑王大巍李新国梁珂闫亮董友梅
关键词：TFT-LCD曲面拟合B样条
触控显示基板和触控显示装置
一种触控显示基板和触控显示装置，其中，触控显示基板，包括：显示区和非显示区，显示区包括：第一显示区(A1)和第二显示区(A2)，第一显示区(A1)围设在第二显示区(A2)至少一侧；触控显示基板包括：基底(10)以及依次设...
梁珂仝可蒙方飞颜俊郑克宁王景泉李新国
液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置
本发明提供了一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置，其中检测方法包括：步骤1、采集所要检测的液晶显示面板的样本图像；步骤2、根据所述样本图像，利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像；步骤3、将所述样...
唐剑王大巍李新国梁珂董友梅
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