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倪炜江

作品数:6 被引量:15H指数:3
供职机构:南京电子器件研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 6篇中文期刊文章

领域

  • 6篇电子电信

主题

  • 4篇二极管
  • 4篇4H-SIC
  • 3篇肖特基
  • 3篇肖特基二极管
  • 3篇SIC
  • 2篇势垒
  • 2篇快恢复二极管
  • 2篇V
  • 1篇导体
  • 1篇导通
  • 1篇导通电阻
  • 1篇电力
  • 1篇电力电子
  • 1篇电力电子器件
  • 1篇电子器件
  • 1篇电阻
  • 1篇续流
  • 1篇续流二极管
  • 1篇频段
  • 1篇热导率

机构

  • 6篇南京电子器件...

作者

  • 6篇李宇柱
  • 6篇倪炜江
  • 6篇李哲洋
  • 5篇陈辰
  • 4篇李赟
  • 3篇陈效建
  • 3篇柏松
  • 2篇王雯
  • 1篇吴鹏
  • 1篇李赞
  • 1篇陈征
  • 1篇陈刚
  • 1篇管邦虎
  • 1篇贾铃铃

传媒

  • 6篇固体电子学研...

年份

  • 3篇2011
  • 3篇2010
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
1200V常开型4H-SiC VJFET被引量:3
2011年
用沟槽和离子注入方法在自主外延的4H导通型碳化硅晶圆上研制了垂直沟道结型场效应晶体管(VJFET)。在栅电压VG=-10 V时阻断电压达到1 200 V;在VG=2.5 V,VD=2V时的电流密度为395 A/cm2,相应的比导通电阻为5.06 mΩ·cm2。分析发现欧姆接触电阻是导通电阻的重要组成部分,改善欧姆接触可以进一步降低导通电阻。
倪炜江李宇柱李哲洋李赟管邦虎陈征柏松陈辰
关键词:比导通电阻
2700V 4H-SiC结势垒肖特基二极管被引量:1
2011年
在76.2 mm 4H-SiC晶圆上采用厚外延技术和器件制作工艺研制的结势垒肖特基二极管(JBS)。在室温下,器件反向耐压达到2 700 V。正向开启电压为0.8 V,在V_F=2 V时正向电流密度122 A/cm^2,比导通电阻R_(on)=8.8 mΩ·cm^2。得到肖特基接触势垒qΦ_B=1.24 eV,理想因子n=1。
倪炜江李宇柱李哲洋李赟王雯贾铃铃柏松陈辰
关键词:高耐压
耐250℃高温的1200 V-5 A 4H-SiC JBS二极管
2010年
倪炜江李宇柱李哲洋李赞陈辰陈效建
关键词:二极管电力电子器件SIC高热导率
UHF频段高功率SiC SIT被引量:1
2011年
采用导通SiC衬底上的SiC多层外延材料,成功制作出了国内首个SiC SIT(静电感应晶体管)。该器件研制中,采用了自对准工艺、高能离子注入及高温退火工艺、密集栅深凹槽干法刻蚀工艺、PECVD SiO2和SixNy介质钝化工艺,有效抑制了漏电并提高了器件击穿电压,器件功率输出能力由此得到提升。最终28 cm栅宽SiC SIT器件,在UHF波段的500 MHz、90 V工作电压下,脉冲饱和输出功率达到了550 W,此时功率增益为11.3 dB。
陈刚王雯柏松李哲洋吴鹏李宇柱倪炜江
关键词:宽禁带半导体静电感应晶体管离子注入
600 V-30 A 4H-SiC肖特基二极管作为IGBT续流二极管的研究被引量:4
2010年
采用碳化硅外延和器件工艺制造了碳化硅肖特基(SBD)二极管,耐压超过600 V。正向压降为1.6 V时,器件电流达到30A。作为IGBT续流二极管,600 V碳化硅肖特基二极管和国际整流器公司的600 V超快恢复二极管(Ultra fast diode)进行了对比:125℃IGBT模块动态开关测试中,碳化硅二极管的反向恢复能耗比硅二极管节省90%,相应的IGBT开通能耗节省30%。另外反向恢复中过电压从40%降为10%,这是由于碳化硅的软度高,提高了模块的可靠性。
李宇柱倪炜江李哲洋李赟陈辰陈效建
关键词:肖特基二极管快恢复二极管
耐250°C高温的1200V-5A 4H-SiC JBS二极管被引量:7
2010年
采用碳化硅外延和器件工艺制造了碳化硅结势垒肖特基(JBS)二极管,耐压达到1200V,封装的器件电流室温达到5A(正向压降2.1V)。通过在不同工作温度下对比测试显示了直流特性随工作温度的变化情况,并验证至少在250°C下依旧能正常工作。研制的1 200 V碳化硅JBS二极管和IXYS公司的600V硅快恢复二极管(Fastrecovery diode)进行了对比:室温动态开关测试中,碳化硅二极管的反向恢复能耗比硅二极管节省92%。这是国内首次报道的250°C高温下正常工作的碳化硅JBS二极管。
倪炜江李宇柱李哲洋李赟陈辰陈效建
关键词:快恢复二极管
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