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姜乐

作品数:7 被引量:22H指数:2
供职机构:南昌大学材料科学与工程学院教育部发光材料与器件工程研究中心更多>>
发文基金:江西省自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 7篇中文期刊文章

领域

  • 6篇理学
  • 3篇电子电信

主题

  • 4篇多孔硅
  • 4篇发光
  • 3篇酸处理
  • 2篇光致
  • 2篇光致发光
  • 2篇发光特性
  • 1篇电化学腐蚀
  • 1篇钝化
  • 1篇钝化膜
  • 1篇阴极还原
  • 1篇荧光
  • 1篇紫外
  • 1篇紫外荧光
  • 1篇无损检测
  • 1篇稀土
  • 1篇稀土掺杂
  • 1篇芯片
  • 1篇蓝光
  • 1篇蓝光LED
  • 1篇化学腐蚀

机构

  • 7篇南昌大学
  • 1篇晶能光电(江...

作者

  • 7篇姜乐
  • 5篇王水凤
  • 4篇元美玲
  • 2篇郑畅达
  • 2篇江风益
  • 2篇唐小迅
  • 2篇戴丽丽
  • 1篇俞振南
  • 1篇曾宇昕
  • 1篇汪庆年
  • 1篇熊志华
  • 1篇邱冲
  • 1篇刘军林
  • 1篇张晓峰
  • 1篇王震东
  • 1篇戴江南

传媒

  • 3篇发光学报
  • 2篇南昌大学学报...
  • 1篇江西科学
  • 1篇韶关学院学报

年份

  • 1篇2008
  • 1篇2007
  • 1篇2006
  • 2篇2005
  • 1篇2004
  • 1篇2003
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
多孔硅的后处理及其发光特性被引量:13
2006年
采用一种新颖而简便的方法,改善多孔硅的发光特性。该方法包括酸处理和阴极还原两步。实验证明通过对多孔硅进行酸处理,能有效提高多孔硅的发光强度;通过对多孔硅进行阴极还原处理,能明显改善多孔硅的发光稳定性,而且发光强度也得到了提高。综合酸处理和阴极还原两技术的特点,对所制备的多孔硅立即先进行酸处理,然后再对其进行阴极还原处理,结果表明该方法能较好地提高多孔硅的发光效率和发光稳定性。而且还对其发光机制进行了探讨。
王水凤姜乐戴丽丽元美玲唐小迅
关键词:多孔硅酸处理阴极还原
磁控溅射技术制备ZnO透光薄膜被引量:1
2007年
采用RF磁控溅射方法,在玻璃衬底上制备了择优取向的ZnO薄膜;通过台阶仪、X射线衍射技术、原子力显微镜和分光光度计分别测量了不同溅射功率条件下淀积的ZnO薄膜厚度(淀积速率)、结晶质量、表面形貌与粗糙度、透光光谱,报道了该薄膜结晶质量、薄膜粗糙度与其在可见光区透光率的关系。
俞振南姜乐熊志华郑畅达戴江南江风益
关键词:ZNO磁控溅射粗糙度溅射功率
稀土掺杂硅基薄膜的高效发光特性被引量:1
2005年
测量了在不同离子注入剂量,不同退火条件下的Nd注入S i基晶片室温光致发光谱,结果表明它们均具有蓝、紫发光峰,且发光稳定。在一定范围内发光效率随掺杂浓度的增加而增大,随退火条件的不同而改变。在实验室条件下,对掺杂硅片和单晶硅片进行电化学腐蚀制成多孔硅样片,同时用适当配比的HNO3对以单晶硅为基底的多孔硅进行处理,测试了腐蚀后各类样品的光致发光(PL)谱。发现掺稀土Nd的多孔硅和用HNO3处理的多孔硅的发光效率有显著提高。
元美玲汪庆年张晓峰王水凤姜乐
关键词:ND掺杂多孔硅酸处理
半导体芯片紫外荧光无损检测被引量:1
2003年
Fe、Na、Ni等金属杂质对半导体器件芯片有严重的负面影响,往往导致器件失效,成品率下降,必须进行有效控制处理。采用紫外荧光(UVF)法可有效检测出硅晶片及半导体器件芯片(如GaP、GaAs等)的金属杂质沾污情况,还能检测金属杂质的相对沾污量,对半导体器件芯片的生产可实现实时非破坏性的检测分析。
王水凤曾宇昕姜乐
关键词:半导体芯片无损检测紫外荧光
HNO_3处理多孔硅高效发光的研究
2005年
在实验室条件下对P型单晶硅片进行阳极电化学腐蚀制成多孔硅(PorousSilicon)样片,同时用适当配比的HNO3对多孔硅进行处理。比较了HNO3作用前后样片的光致发光(PL)谱,结果发现用HNO3处理的多孔硅的发光效率有显著提高。用XPS和SEM对样片测试的结果表明:酸处理后样片表面形成Si—O结构,其表面平均孔径增大,而且分布更均匀。
王水凤姜乐戴丽丽王震东元美玲
关键词:多孔硅光致发光HNO3
SiN钝化膜对Si衬底GaN基蓝光LED性能影响被引量:5
2008年
利用等离子辅助化学气相沉积(PECVD)系统在垂直结构Si衬底GaN基蓝光LED芯片上生长了SiN钝化膜,并对长有钝化膜及未作钝化处理的LED在不同条件下进行了老化实验,首次研究了SiN钝化膜对垂直结构Si衬底GaN基蓝光LED可靠性的影响。实验发现:经过30mA、85℃、24h条件老化后,未作钝化处理的Si衬底GaN基蓝光LED的平均光衰为11.41%,而长有SiN钝化膜的LED平均光衰为6.06%,SiN钝化膜有效地改善了LED在各种老化条件下的光衰,另外,SiN钝化膜缓解了Si衬底GaN基蓝光LED老化过程中反向电压(Vr)的下降,但对老化后LED的抗静电击穿能力(ESD)没有明显的影响。
邱冲刘军林郑畅达姜乐江风益
关键词:蓝光LEDSIN钝化光衰
酸处理多孔硅高效发光性能被引量:1
2004年
在实验室条件下对P型单晶硅片进行阳极电化学腐蚀制成多孔硅(PorousSilicon)样片,同时用适当配比的HNO3对多孔硅进行处理。通过荧光分光光度计测试并比较了HNO3作用前后样片的光致发光(PL)谱,结果发现用HNO3处理的多孔硅的发光效率有显著提高。另外,本文还对多孔硅以及HNO3处理的多孔硅的发光稳定性作了对比研究和探讨。
王水凤姜乐元美玲唐小迅
关键词:多孔硅光致发光酸处理电化学腐蚀
共1页<1>
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