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邹雅冰

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:工业和信息化部电子第五研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电子工业
  • 1篇粘接
  • 1篇粘接层
  • 1篇阵列封装
  • 1篇数值模拟
  • 1篇球栅阵列
  • 1篇球栅阵列封装
  • 1篇热阻
  • 1篇温度分布
  • 1篇芯片
  • 1篇功率芯片
  • 1篇封装
  • 1篇BGA
  • 1篇值模拟

机构

  • 2篇工业和信息化...

作者

  • 2篇邹雅冰
  • 1篇何骁
  • 1篇贺光辉

传媒

  • 1篇电子工艺技术
  • 1篇2013中国...

年份

  • 1篇2023
  • 1篇2013
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
BGA'枕头效应'的失效原因分析
uot;枕头效应"是BGA封装器件的一种典型且特有的失效模式,与多种因素有关.本文选取了一个典型的"枕头效应"案例进行分析,详细介绍了分析过程,获得了失效原因.同时,总结和分析了其它导致&q...
邹雅冰贺光辉
关键词:电子工业球栅阵列封装
粘接层空洞对功率芯片热阻的影响
2023年
采用有限元数值模拟方法,建立金氧半场效晶体管(MOSFET)三维有限元模型,定义不同大小和位置的粘接层空洞模型,对器件通电状态下的温度场进行计算,讨论空洞对于热阻的影响。有限元仿真结果表明,随着芯片粘接层空洞越大,器件热阻随之增大,在低空洞率下,热阻增加缓慢,高空洞率下,热阻增加更明显;总空洞率一致时,不同位置空洞对应器件热阻的关系为中心空洞>拐角空洞>阵列空洞。采用双界面法对含有空洞缺陷的器件进行了热阻测试,将试验数据修正仿真结果,获得准确的空洞-热阻曲线,对于芯片粘接空洞工艺控制提供理论参考。
潘浩东卢桃陈晓东何骁邹雅冰
关键词:温度分布热阻数值模拟
共1页<1>
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