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杨洁

作品数:1 被引量:0H指数:0
供职机构:杭州电子科技大学更多>>
发文基金:浙江省自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇自测试
  • 1篇内建自测试
  • 1篇TEST
  • 1篇CLOCK
  • 1篇IC测试
  • 1篇PER

机构

  • 1篇杭州电子科技...

作者

  • 1篇刘铁桥
  • 1篇牛小燕
  • 1篇杨洁
  • 1篇毛峰

传媒

  • 1篇电子与信息学...

年份

  • 1篇2017
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
一种高效的混合Test-Per-Clock测试方法
2017年
该文提出了一种基于内建自测试(BIST)的Test-Per-Clock混合模式向量产生方法。测试由两个部分组成:自由线性反馈移位寄存器(LFSR)伪随机测试模式和受控LFSR确定型测试模式。伪随机测试模式用于快速地检测伪随机易测故障,减少确定型数据存储。受控LFSR测试模式采用直接存储在ROM中的控制位流对剩余故障产生确定型测试。通过对提出的BIST混合模式测试结构理论分析,提出了伪随机向量的选取方法以及基于受控线性移位确定型测试生成方法。基准电路的仿真结果表明,该方法可以获得完全单固定型故障覆盖率,其测试产生器设计简单且具有良好的稳定性,与其他方法相比,具有较低的测试开销和较短的测试应用时间。
刘铁桥牛小燕杨洁毛峰
关键词:IC测试内建自测试
共1页<1>
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