您的位置: 专家智库 > >

刘铁桥

作品数:15 被引量:16H指数:2
供职机构:杭州电子科技大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金湖南省教育厅科研基金国家社会科学基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术经济管理更多>>

文献类型

  • 11篇期刊文章
  • 2篇学位论文
  • 2篇专利

领域

  • 7篇电子电信
  • 5篇自动化与计算...
  • 1篇经济管理

主题

  • 5篇电路
  • 3篇软错误
  • 3篇自测试
  • 3篇内建自测试
  • 3篇故障模拟
  • 3篇测试数据
  • 2篇硬件
  • 2篇硬件要求
  • 2篇时延
  • 2篇数据压缩
  • 2篇逻辑电路
  • 2篇模拟器
  • 2篇进制
  • 2篇可靠度
  • 2篇汇聚
  • 2篇二进制
  • 2篇泊松
  • 2篇泊松分布
  • 2篇测试数据压缩
  • 1篇多扫描链

机构

  • 11篇湖南大学
  • 7篇长沙理工大学
  • 6篇杭州电子科技...
  • 1篇中南大学

作者

  • 15篇刘铁桥
  • 8篇邝继顺
  • 8篇蔡烁
  • 3篇王伟征
  • 2篇柳毅
  • 2篇尤志强
  • 2篇王晓耘
  • 1篇刘三红
  • 1篇肖序
  • 1篇胡进
  • 1篇凌纯清
  • 1篇周颖波
  • 1篇杨致远
  • 1篇张亮
  • 1篇牛小燕
  • 1篇杨洁
  • 1篇毛峰

传媒

  • 2篇电子与信息学...
  • 2篇电子学报
  • 1篇价格理论与实...
  • 1篇仪器仪表学报
  • 1篇计算机研究与...
  • 1篇计算机学报
  • 1篇计算机工程
  • 1篇计算机应用研...
  • 1篇计算机科学

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2017
  • 2篇2016
  • 2篇2015
  • 3篇2014
  • 1篇2013
  • 4篇2012
  • 1篇2010
15 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种将测试集嵌入到Test-per-Clock位流中的方法被引量:1
2014年
集成电路测试方案的关键在于测试向量产生器的设计.传统的测试方法在测试向量生成、测试应用的过程中,没有充分利用测试数据位流来构建测试向量,从而造成了测试时间和存储开销的增加.为了减少测试成本,提出了一种基于test-per-clock模式的内建自测试方法.通过对线性移位测试结构的分析,提出了一种递进式的反复测试生成方法:顺序求解输入位流,逆向精简,多次求解以获得更优值,最终将测试集以较小的代价嵌入到test-per-clock位流中.在测试应用时,只需存储求解后的最小输入流,通过控制线性移位的首位从而生成所需的测试集.实验结果表明,在达到故障覆盖率要求的前提下,能显著地减少测试应用时间和存储面积开销.
刘铁桥邝继顺蔡烁尤志强
关键词:内建自测试
工业废弃物价格形成机制研究——基于循环经济视角被引量:2
2016年
合理的价格有利于从根本上解决废弃物回收难问题。本文在研究工业废弃物的价格形成过程中,从市场交易的买方、卖方的角度出发,在考虑各方的经济利益、环境利益、投资成本、机会成本等前提下,运用经济人假设和动态最优化的决策方法,分别进行利益最大化分析,确定最大化利润前提下的买方价格和卖方价格,以两者的差额来确定政府是否给予环境补贴及环境补贴金额,最终促进工业废弃物交易市场的形成和协调发展。
刘三红肖序刘铁桥
关键词:循环经济利益最大化
一种新的小时延故障模拟器
2012年
现有的小时延故障模拟方法一般采用基于故障注入的串行模拟方法,是一个显式的故障处理过程,在时间上还有很大的改善空间。通过深入研究小时延故障的传播特点,采用波形模拟和临界路径追踪相结合的方法,实现了对小时延故障的隐式处理,开发了一种新的小时延故障模拟器。以扇出源为研究点,通过向后追踪与向前分组传播相结合的方法实现整个模拟过程,并通过电路划分和临界路径的识别,减少了对无关故障的模拟消耗。新的模拟器在适用性和速度上都具有明显的优势,对ISCAS89电路的实验结果表明,与现有的小时延故障模拟器相比,模拟速度能提升1~2个数量级。
胡进邝继顺刘铁桥
关键词:故障模拟
针对扫描阻塞结构的测试数据压缩方案
2012年
分析了集成电路测试面临的测试数据量大、测试应用时间长等问题,对常用的测试压缩方法进行了介绍,并在扫描阻塞测试结构基础上,提出了对数据进行部分编码压缩的方案。在附加硬件开销很小的情况下,进一步压缩了测试数据。理论分析和实验结果都表明了本压缩方案的可行性和有效性。
蔡烁杨致远刘铁桥王伟征
关键词:泊松分布
一种小时延缺陷演绎模拟器实现方法
本发明涉及一种小时延缺陷演绎模拟器实现方法。现有方法所需内存较大、编程难度高、硬件要求高。本发明方法包括波形表示方法、故障模拟策略、演绎模拟方法。波形表示方法基于整型数据拼接的二进制位序列;故障模拟策略针对不同位置的故障...
刘铁桥王晓耘柳毅
文献传递
数字集成电路测试压缩与时延测试技术研究
集成电路(integratedcircuit,IC)测试是保证数字IC产品安全可靠工作的一个必不可少的环节。随着电路规模的不断增大,大规模集成电路测试所需的测试数据量也随之增加,使得IC测试面临着测试应用时间过长、存储开...
刘铁桥
关键词:数字集成电路时延测试
受控线性移位测试生成方法研究
随着集成电路(Integrated Circuit,IC)制造工艺水平的提升和芯片面积的增加,大规模集成电路测试需要越来越多的测试数据。SoC(System-on-a—Chip)逐渐成为IC发展的主流模式,在单芯片中集成...
刘铁桥
关键词:内建自测试可测性设计
文献传递
考虑信号相关性的逻辑电路可靠度计算方法
2014年
随着集成电路特征尺寸不断缩小,软错误已经成为影响电路可靠性的关键因素.计算软错误影响下逻辑电路的信号概率能辅助评估电路的可靠性.引起逻辑电路信号概率计算复杂性的原因是电路中的扇出重汇聚结构,本文提出一种计算软错误影响下逻辑电路可靠度的方法,使用概率公式和多项式运算,对引发相关性问题的扇出源节点变量作降阶处理,再利用计算得到的输出信号概率评估电路可靠度.用LGSynth91基准电路、74系列电路和ISCAS85基准电路为对象进行实验,结果表明所提方法准确有效.
蔡烁邝继顺刘铁桥王伟征
关键词:软错误降阶
一种小时延缺陷演绎模拟器实现方法
本发明涉及一种小时延缺陷演绎模拟器实现方法。现有方法所需内存较大、编程难度高、硬件要求高。本发明方法包括波形表示方法、故障模拟策略、演绎模拟方法。波形表示方法基于整型数据拼接的二进制位序列;故障模拟策略针对不同位置的故障...
刘铁桥王晓耘柳毅
文献传递
一种多扫描链混合测试数据压缩方法被引量:1
2012年
针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出一种多扫描链的混合测试数据压缩方法。对于含无关位较多的测试向量,使用伪随机向量产生器生成。对于含无关位较少的向量,则直接使用自动测试设备存储。将该方法与另一种基于扫描阻塞的测试方法进行比较,理论分析和实验结果表明,该方法对数据的压缩效果优于单纯用伪随机方式的扫描阻塞测试方法。
蔡烁邝继顺刘铁桥
关键词:测试数据压缩泊松分布
共2页<12>
聚类工具0