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蔡烁

作品数:32 被引量:62H指数:5
供职机构:长沙理工大学计算机与通信工程学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金湖南省教育厅科研基金湖南省普通高等学校教学改革研究项目更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信文化科学天文地球更多>>

文献类型

  • 26篇期刊文章
  • 3篇学位论文

领域

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主题

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  • 4篇逻辑电路
  • 4篇测试数据压缩
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  • 3篇可靠度
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  • 2篇电流测试
  • 2篇容错
  • 2篇容错设计
  • 2篇瞬态
  • 2篇瞬态电流测试
  • 2篇自测试
  • 2篇自反馈
  • 2篇网络
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机构

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作者

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传媒

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年份

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  • 2篇2019
  • 1篇2018
  • 3篇2017
  • 5篇2015
  • 2篇2014
  • 1篇2013
  • 6篇2012
  • 1篇2010
  • 1篇2009
  • 2篇2008
  • 3篇2007
32 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
“新工科”背景下非计算机类专业计算机网络课程教学探索被引量:6
2018年
随着"新工科"的建设、发展以及计算机网络的普及,非计算机类专业学生掌握一定的计算机网络技术越来越重要。结合目前"新工科"建设背景下高校中非计算机类专业计算机网络课程教学中存在的问题,对如何有效地开展教学进行了探索,有针对性地提出了相应的解决方法。
余飞蔡烁李利香高雷
关键词:计算机网络课程教学
低延迟低电压电流比较器
2019年
设计了一种基于改进共源共栅电流镜的CMOS电流比较器,该比较器在1 V电压且电压误差±10%的状态下都正常工作,同时改进后的结构能够在低电压下取得较低的比较延迟。电路的输入级将输入的电流信号转化为电压信号,电平移位级的引入使该结构能够正常工作在不同的工艺角和温度下,然后通过放大器和反相器得到轨对轨输出电压。基于SMIC 0.18μm CMOS工艺进行了版图设计,并使用SPECTRE软件在不同工艺角、温度和电源电压下对电路进行了仿真。结果表明,该电路在TT工艺角下的比较精度为100 nA,平均功耗为85.53μW,延迟为2.55 ns,适合应用于高精度、低功耗电流型集成电路中。
余飞高雷宋云蔡烁
关键词:电流比较器CMOS模拟集成电路反相器
一种将测试集嵌入到Test-per-Clock位流中的方法被引量:1
2014年
集成电路测试方案的关键在于测试向量产生器的设计.传统的测试方法在测试向量生成、测试应用的过程中,没有充分利用测试数据位流来构建测试向量,从而造成了测试时间和存储开销的增加.为了减少测试成本,提出了一种基于test-per-clock模式的内建自测试方法.通过对线性移位测试结构的分析,提出了一种递进式的反复测试生成方法:顺序求解输入位流,逆向精简,多次求解以获得更优值,最终将测试集以较小的代价嵌入到test-per-clock位流中.在测试应用时,只需存储求解后的最小输入流,通过控制线性移位的首位从而生成所需的测试集.实验结果表明,在达到故障覆盖率要求的前提下,能显著地减少测试应用时间和存储面积开销.
刘铁桥邝继顺蔡烁尤志强
关键词:内建自测试
一种用于测试数据压缩的自适应EFDR编码方法被引量:12
2015年
该文提出一种用于测试数据压缩的自适应EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)编码方法。该方法以EFDR编码为基础,增加了一个用于表示后缀与前缀编码长度差值的参数N,对测试集中的每个测试向量,根据其游程分布情况,选择最合适的N值进行编码,提高了编码效率。在解码方面,编码后的码字经过简单的数学运算即可恢复得到原测试数据的游程长度,且不同N值下的编码码字均可使用相同的解码电路来解码,因此解码电路具有较小的硬件开销。对ISCAS-89部分标准电路的实验结果表明,该方法的平均压缩率达到69.87%,较原EFDR编码方法提高了4.07%。
邝继顺周颖波蔡烁
关键词:测试数据压缩
基于相关性分离的逻辑电路敏感门定位算法
2024年
随着CMOS器件特征尺寸进入纳米量级,因高能粒子辐射等造成的电路失效问题日益严重,给电路可靠性带来严峻挑战。现阶段,准确评估集成电路可靠性,并以此为依据对电路进行容错加固,以提高电路系统可靠性变得刻不容缓。然而,由于逻辑电路中存在大量扇出重汇聚结构,由此引发的信号相关性导致可靠性评估与敏感单元定位面临困难。该文提出一种基于相关性分离的逻辑电路敏感门定位算法。先将电路划分为多个独立电路结构(ICS);以ICS为基本单元分析故障传播及信号相关性影响;再利用相关性分离后的电路模块和反向搜索算法精准定位逻辑电路敏感门单元;最后综合考虑面向输入向量空间的敏感门定位及针对性容错加固。实验结果表明,所提算法能准确、高效地定位逻辑电路敏感单元,适用于大规模及超大规模电路的可靠性评估与高效容错设计。
蔡烁何辉煌余飞尹来容刘洋
关键词:逻辑电路失效率容错设计
波形模拟器关于组合电路中竞争冒险的应用被引量:3
2012年
为了更好地研究组合逻辑电路的竞争冒险现象,提出了一种关于组合电路竞争冒险的波形模拟方法,利用基于布尔过程的波形模拟器对电路进行模拟.该方法为检测电路中的竞争冒险现象提供了帮助,能有效降低对某些尖峰脉冲敏感的负载电路所产生的影响.实验结果证明了该方法的可行性和有效性.
蔡烁杨致远刘舜
关键词:组合电路
一种检测冗余故障的瞬态电流测试方法被引量:2
2007年
数字电路中的冗余故障是不能被传统的电压测试方法(VoltageTesting)和稳态电流测试方法(IDDQTest-ing)检测出来的。根据瞬态电流测试(IDDQTesting)的思想,提出一种检测冗余故障的方法,该方法利用扇出重汇聚结构当中从扇出点到重汇聚点的不同路径的延迟差,在重汇聚点形成冒险,以激活故障并进行传播。实验表明,此方法能够有效地检测冗余故障。
崔昌明邝继顺蔡烁
关键词:数字电路瞬态电流测试
基于虚拟现实技术的“三维形态构成”课程改革研究
2017年
"形态构成课程"是高校设计类专业重要的专业基础课程,需要顺应时代特征进行改革创新。更新教学观念,改进教学方法,将虚拟现实技术引入课程教学,能为学习者提供一种富有良好表现力、灵活交互性和真实沉浸感的应用场景,激发学生的学习积极性,进而强化教学效果。
朱诗源肖虹蔡烁
关键词:虚拟现实技术
一种用于测试数据压缩的改进型EFDR编码方法被引量:9
2015年
针对集成电路测试中测试数据量过大的问题,提出一种改进型EFDR编码压缩方法。该方法保留了原EFDR编码中可同时对0游程和1游程编码的优点,同时将相邻组别游程的编码长度之差缩减为1位,使游程的编码长度更符合游程在实际测试数据中的出现频率,提高了编码效率。在解码方面,编码后的码字经过简单的数学运算即可恢复得到原测试数据的游程长度,因此解码电路具有较小的硬件开销。实验结果表明,本方法的平均压缩率为68.01%,在保持较小硬件解码开销的同时,具有较高的测试数据压缩率。
邝继顺周颖波蔡烁皮霄林
关键词:测试数据压缩解码
一种基于电路自反馈的测试向量产生算法
2008年
内建自测试(BIST)是可测性设计中常用的方法,其中的测试电路部分要占用一定的芯片面积。提出并实现了一种基于电路自反馈的测试向量产生算法,通过将被测电路中的一些内部节点反馈连接到被测电路的输入端,由电路自己施加测试向量进行测试。该方法可以减少BIST的面积开销,实现全速测试,同时还能保证较高的故障覆盖率。
蔡烁
关键词:可测性设计内建自测试自反馈测试集
共3页<123>
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