王震
- 作品数：26 被引量：8H指数：1
- 供职机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金中国工程物理研究院科学技术发展基金国家科技重大专项更多>>
- 相关领域：理学化学工程自动化与计算机技术文化科学更多>>
- 一种遮蔽板确定方法、镀膜方法和装置
- 本申请提供一种遮蔽板确定方法、镀膜方法和装置，应用于对反向行星式旋转镀膜工艺中遮蔽板的形状进行确定，所述方法包括：获取待镀膜元件上多个待镀膜点的初始膜厚，以及获取待镀膜元件的尺寸和镀膜设备的尺寸；根据所述待镀膜元件的尺寸...
- 罗晋张飞卫耀伟李树刚李海波李洁唐明王震吴倩潘峰罗振飞胡建平张清华刘民才王健
- 一种光学元件全口径镀膜装置及其方法
- 本发明适用于光学元件镀膜技术领域，提供了一种光学元件全口径镀膜装置及其方法，该镀膜装置包括夹持工装主体、夹持组件、侧面板、至少一个顶紧组件；所述夹持工装主体包括基板、至少两个限位块，所述基板上设置有容纳孔，所述限位块对称...
- 王震卫耀伟许乔张飞吴倩罗晋李树刚罗振飞唐明刘民才
- 文献传递
- 一种抗污染真空减反膜及其制备方法
- 本发明公开了一种抗污染真空减反膜及其制备方法，属于光学材料技术领域。本发明通过在溶胶合成完成后加入改性剂2,2,3,3,4,4,5,5,6,6,7,7‑全氟‑1,8‑辛二醇，对生成的二氧化硅表面进行氟化改性，改性剂为全氟...
- 张清华邓雪然杨伟雷向阳马红菊王震惠浩浩王梓龙张剑锋张帅
- 文献传递
- 薄膜品质检测方法、装置、电子设备及存储介质
- 本申请提供涉及一种薄膜品质检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及薄膜品质控制领域。上述薄膜品质检测方法包括：根据薄膜样品的物理数学模型和所述薄膜样品经椭偏检测获得的椭偏检测曲线，以薄膜材料的本征折射率色散表达式为特征参...
- 胡建平刘民才王震吴倩张飞卫耀伟王健
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- 一种遮蔽板确定方法、镀膜方法和装置
- 本申请提供一种遮蔽板确定方法、镀膜方法和装置，应用于对反向行星式旋转镀膜工艺中遮蔽板的形状进行确定，所述方法包括：获取待镀膜元件上多个待镀膜点的初始膜厚，以及获取待镀膜元件的尺寸和镀膜设备的尺寸；根据所述待镀膜元件的尺寸...
- 罗晋张飞卫耀伟李树刚李海波李洁唐明王震吴倩潘峰罗振飞胡建平张清华刘民才王健
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- 一种元件激光损伤测量方法及装置
- 本发明提供一种元件激光损伤测量方法及装置。测量时，对每一个预设测试点采用基本相同的能量和能量密度的激光脉冲进行逐次多发次辐照，并实时监测测试点的光学图像以判断该测试点是否产生功能性损伤，同时在线获取每一次辐照时的激光能量...
- 张哲潘峰刘志超郑轶汤鹏唐明罗晋吴倩卫耀伟张飞王震
- 文献传递
- 1064nm激光预处理对HfO_2/SiO_2反射膜损伤形态转化影响研究被引量：7
- 2017年
- 实验研究了不同激光预处理参数对于纳秒激光多脉冲作用下HfO_2/SiO_2反射膜损伤形态转化的影响。通过对比两类损伤扩张性和对薄膜功能性破坏机制,提出激光预处理技术的重要意义在于抑制损伤形态转化过程。通过薄膜损伤形态分析揭示了激光预处理作用机制为节瘤缺陷的去除和亚表面吸收前驱体的形成两方面的综合作用。实验结果表明:预处理后薄膜损伤形态转化特征曲线向更高通量和更多发次方向平移。针对现有工艺下的薄膜,采用高通量、两台阶的预处理参数组合能够获得兼顾效率的最佳收益,其零几率损伤形态转化阈值最高可以提升140%。
- 刘志超郑轶潘峰王震王健许乔
- 关键词：激光预处理
- 一种光学元件全口径镀膜装置及其方法
- 本发明适用于光学元件镀膜技术领域，提供了一种光学元件全口径镀膜装置及其方法，该镀膜装置包括夹持工装主体、夹持组件、侧面板、至少一个顶紧组件；所述夹持工装主体包括基板、至少两个限位块，所述基板上设置有容纳孔，所述限位块对称...
- 王震卫耀伟许乔张飞吴倩罗晋李树刚罗振飞唐明刘民才
- 文献传递
- 制作光学薄膜的方法、膜系结构、镀膜方法、激光反射镜
- 一种制作光学薄膜的方法、膜系结构、镀膜方法、激光反射镜，属于光学设备领域。该方法包括：在基板之上，制作满足光谱指标的第一膜堆；在第一膜堆之上，制作满足面形指标的第二膜堆；在所述第二膜堆之上，制作满足损伤指标的第三膜堆。通...
- 卫耀伟王震张飞李树刚唐明吴倩潘峰罗晋罗振飞刘民才张清华王健许乔
- 文献传递
- 一种元件激光损伤测量方法及装置
- 本发明提供一种元件激光损伤测量方法及装置。测量时，对每一个预设测试点采用基本相同的能量和能量密度的激光脉冲进行逐次多发次辐照，并实时监测测试点的光学图像以判断该测试点是否产生功能性损伤，同时在线获取每一次辐照时的激光能量...
- 张哲潘峰刘志超郑轶汤鹏唐明罗晋吴倩卫耀伟张飞王震
