李宇君
- 作品数：5 被引量：46H指数：5
- 供职机构：桂林电子工业学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金广西壮族自治区自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信金属学及工艺一般工业技术电气工程更多>>
- 固化工艺参数对导电胶导电性的影响被引量：8
- 2005年
- 用四点探针法的原理设计了一种测试导电胶电阻的新方法.研究了固化温度、时间及导电胶层厚度对导电胶固化后导电性的影响.结果表明:夹具经预热导电胶,在80～140℃固化较好;未预热时在110～150℃固化较好,但固化时间较长;随着导电胶层厚度增加,固化时间和固化后的最低电阻都有一定的增大;最佳的固化效果是固化到电阻变化很微小时停止固化.
- 刘运吉杨道国秦连城张旭李宇君
- 关键词：复合材料导电胶导电性
- 无铅倒装焊封装工艺中的芯片应力及开裂分析被引量：5
- 2006年
- 采用粘塑性Garofalo-Arrhenius模型描述无铅焊料的非弹性力学行为,确定了Sn3.5Ag焊料该模型的材料参数。采用与固化过程相关的粘弹性力学模型描述倒装焊底充胶的力学行为。利用有限元仿真的方法,模拟了无铅倒装封装器件封装的工艺及可靠性测试。结果表明:由于无铅技术在封装中的引入,芯片破裂的可能性随之增加,破裂出现时裂纹的尺寸更小。
- 潘宏明杨道国罗海萍李宇君
- 关键词：半导体技术有限元仿真开裂
- 热–机械应力和湿气引起QFN器件层间开裂分析被引量：7
- 2006年
- 采用通用有限元软件分析和计算器件在潮湿环境下的潮湿扩散,并计算由于吸潮使器件在无铅回流的高温下产生蒸汽压力,并对层间开裂现象进行分析。结果表明,气压是层间开裂的主要原因,在气压和热机械应力的作用下,层合面上的微孔洞扩张并结合起来,导致器件最后失效。
- 罗海萍杨道国李宇君
- 关键词：电子技术QFN封装无铅焊
- 无铅焊料在电子组装与封装中的应用被引量：18
- 2006年
- 随着人们对环境的日益重视和电子封装组装技术的发展,合金焊料的无铅化和质量的要求也越来越高,开发无铅、无毒焊料成为焊料开发的重要方向。介绍了无铅焊料的应用现状及无铅的使用要求,并论述了几种无铅焊料Sn-Ag、Sn-Zn、Sn-B i系的特点,以及添加其它元素对它们综合性能的影响。
- 李宇君秦连城杨道国
- 关键词：无铅SN-AGSN-BISN-ZN
- Sn-Ag-Cu焊料中金属间化合物对焊接性能的影响被引量：9
- 2006年
- 讨论了Sn-Ag-Cu焊料与Cu焊盘间在回流焊过程中形成的金属间化合物(IMC)的种类、形态,Ag含量和Cu含量对IMC的影响,IMC在老化过程中的生长演变及其对焊接性能的影响。结果表明:Sn-Ag-Cu焊料与Cu焊盘之间的金属间化合物主要是Cu6Sn5和长针状的Ag3Sn,Ag和Cu的添加对组织有明显细化作用,但过量添加会影响IMC的性能。IMC的演变主要是与老化温度、老化时间有关,较厚的IMC不利于焊接性能的提高。
- 李宇君杨道国秦连城罗海萍
- 关键词：金属材料金属间化合物无铅焊料
