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文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学
  • 1篇化学工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇导电性
  • 1篇收率
  • 1篇数据分析
  • 1篇能谱
  • 1篇偶氮
  • 1篇偶氮氯膦
  • 1篇偶氮氯膦MA
  • 1篇中稀土
  • 1篇稀土
  • 1篇稀土总量
  • 1篇相对标准偏差
  • 1篇晶体
  • 1篇快速测定方法
  • 1篇加标回收
  • 1篇加标回收率
  • 1篇荷电效应
  • 1篇痕量
  • 1篇痕量杂质
  • 1篇俄歇电子
  • 1篇俄歇电子能谱

机构

  • 4篇中国电子科技...

作者

  • 4篇王鑫
  • 2篇褚连青
  • 1篇李雨辰
  • 1篇蔺娴
  • 1篇魏利洁
  • 1篇李继爽
  • 1篇刘占勇
  • 1篇王奕

传媒

  • 2篇现代仪器
  • 1篇材料导报
  • 1篇福建分析测试

年份

  • 1篇2024
  • 1篇2018
  • 1篇2012
  • 1篇2011
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
俄歇电子能谱测试中非导电粉末样品的荷电效应及消除方法
2024年
俄歇电子能谱在分析绝缘样品时,要得到正确的谱图,荷电效应是一个重要的影响因素。本文选取Al_(2)0_(3)粉末为例,提出了俄歇电子能谱分析Al_(2)0_(3)粉末样品的制样方法,通过对比几种减少荷电效应的实验,选取了以覆盖铝导电膜的方法进行实验。此方法流程简便、高效,降低了因荷电效应的影响,通过对Al203的标准摩尔比进行匹配,得到了比较好的匹配度。此方法检测结果较好。
王鑫
关键词:俄歇电子能谱荷电效应导电性
ICP-MS法测定高纯碳化硅粉表面的痕量杂质被引量:2
2011年
本文采用ICP-MS法对高纯碳化硅粉表面的Na、AI、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Cd 12种痕量杂质进行测定,用氢氟酸溶液浸提试样表面杂质,用钇做内标补偿基体效应和仪器的漂移,用碰撞反应技术消除多原子离子干扰,通过实验确定最佳优化测定条件。方法检出限为0.005~0.036μg/L;加标回收率为80.0%~120.3%之间;RSD为1.78%~8.95%。方法操作简便、快速、准确。
褚连青刘占勇王奕王鑫
关键词:ICP-MS
钢铁及合金中稀土总量快速测定方法研究被引量:4
2012年
本文建立铜铁及其合金中稀土总量快速测定方法。试样用硫酸和硝酸的混合酸溶解,用草酸做掩蔽剂,偶氮氯膦mA与稀土生成蓝色络合物,于分光光度计波长670nm处测量其吸光度样品的加标回收率为96.0%~101.8%,相对标准偏差(RSD)为3.0%。、方法操作简便、快速、准确.
褚连青李继爽王鑫魏利洁
关键词:快速测定方法稀土总量偶氮氯膦MA相对标准偏差加标回收率
DAST晶体XPS数据分析基准的讨论被引量:1
2018年
为了方便地表征4-(4-二甲基氨基苯乙烯基)甲基吡啶对甲基苯磺酸盐(DAST)的性质,采用X射线光电子能谱仪(XPS)分别对两种原粉的DAST晶体、吸附有一定量水的DAST籽晶和新制备的DAST籽晶进行了表面元素分析。通过分析数据,并选取其中合适峰位的元素作为数据分析时的基准。结果表明,DAST晶体中的C、N、O元素均不适合作为XPS数据分析的基准元素,可能来源于表面沾污的Si元素也不能作为数据分析的基准,而将晶体中硫元素(167.50eV)作为基准,校准数据后分析C、N元素,其结果是合理的。
蔺娴李雨辰王鑫
关键词:DAST晶体XPS数据分析
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