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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电气工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 1篇单兵
  • 1篇选相
  • 1篇选相分合闸
  • 1篇枝晶
  • 1篇智能数据
  • 1篇装置误动
  • 1篇误动
  • 1篇误动故障
  • 1篇肖特基
  • 1篇肖特基二极管
  • 1篇芯片
  • 1篇换流
  • 1篇换流站
  • 1篇故障案例分析
  • 1篇管理功能
  • 1篇合闸
  • 1篇二极管
  • 1篇分合闸
  • 1篇伏安表
  • 1篇AG

机构

  • 3篇中国南方电网...
  • 1篇信息产业部电...

作者

  • 3篇徐晟
  • 1篇王宏芹
  • 1篇王坤
  • 1篇牛峥
  • 1篇何海欢
  • 1篇陆锐

传媒

  • 1篇电子器件
  • 1篇电工技术
  • 1篇新型工业化

年份

  • 2篇2022
  • 1篇2018
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
具备智能数据管理功能的新型单兵化相位伏安表
2022年
研制了一款具备智能数据管理功能的新型单兵化相位伏安表,在传统伏安表的基础上增加了数据分析功能,实现数据的远程上传下载、云存储、高端分析等功能,改变了传统检修计量过程中先现场检测、后数据处理,先数据显示、后数据抄写的异步处理方式,使数据处理与现场测量及现场测量与测试报告同步进行,具备强大的数据管理能力,适合单人操作,可极大提高作业效率。
何海欢徐晟陆锐王坤
关键词:伏安表
Ag电化学迁移引发肖特基二极管烧毁的失效机理分析被引量:1
2022年
在阐述银电化学迁移机理的基础上,利用体视显微镜、晶体管图示仪、光学显微镜、X射线检测系统及扫描电子显微镜等技术手段,系统分析了智能电表中肖特基二极管的电化学失效原因。结果表明:二极管芯片正面局部区域遭受了S污染,并发生了Ag电化学迁移现象;芯片边缘析出了Ag枝晶,导致芯片发生短路烧毁,二极管最终失效。本工作的研究成果为电子封装互连焊点中的电化学迁移导致的失效分析提供实践参考。
徐晟王宏芹牛峥李洁森甘卿忠
关键词:肖特基二极管芯片
换流站选相分合闸装置误动故障案例分析被引量:4
2018年
在换流站的发展中为提高其运行质量以及稳定性,引入选相分合闸装置,通过该装置稳定电流以及电压并保证系统运行的寿命和稳定性。但是在换流站运用选相分合闸装置中还存在一些问题,针对这些问题需要进行解决和应对,避免故障问题。本文主要针对换流站选相分合闸装置误动故障进行分析,在分析过程中以某换流站的实际案例为例进行分析,最终分析出现误动故障的原因,针对原因提出改进和优化措施。
徐晟
关键词:换流站误动故障
共1页<1>
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