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孙建国

作品数：6 被引量：5H指数：2
供职机构：吉林大学电子科学与工程学院更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇中文期刊文章

领域

  • 6篇电子电信

主题

  • 5篇电路
  • 5篇集成电路
  • 4篇砷化镓
  • 3篇电光
  • 3篇GAAS
  • 2篇电光采样
  • 2篇信号
  • 2篇分频
  • 2篇高速集成电路
  • 1篇单片
  • 1篇单片集成
  • 1篇单片集成电路
  • 1篇电路芯片
  • 1篇电信
  • 1篇电信号
  • 1篇动态特性
  • 1篇在片测试
  • 1篇在线检测
  • 1篇数字集成电路
  • 1篇驱动电路

机构

  • 6篇吉林大学
  • 1篇河北半导体研...
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇电子工业部

作者

  • 6篇孙伟
  • 6篇衣茂斌
  • 6篇孙建国
  • 5篇贾刚
  • 4篇田小建
  • 4篇马振昌
  • 2篇高鼎三
  • 2篇曹杰
  • 2篇王佳生
  • 2篇王国全
  • 1篇张慕义
  • 1篇秦莉

传媒

  • 2篇Journa...
  • 2篇红外与毫米波...
  • 1篇光子学报
  • 1篇电子科学学刊

年份

  • 1篇2000
  • 1篇1997
  • 1篇1996
  • 1篇1995
  • 2篇1994
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
GaAs单片集成激光器驱动电路在片测量被引量：1
2000年
用多触头微波探针 ,对 Ga As单片集成激光器驱动电路芯片进行了在片测试和筛选 ,测得芯片频率响应带宽为 3.8GHz.使用高速增益开关半导体激光器作为采样光脉冲源 ,采用了背面直接采样方式建立了电光采样测试仪 .检测了 Ga As单片集成激光器驱动电路芯片内部点的高速电信号波形 .
孙伟田小建孙建国衣茂斌张慕义张玉清马振昌
关键词：砷化镓单片集成电路激光器驱动电路
GaAs高速集成电路内部动态特性直接电光采样检测
1994年
研制成功GaAs高速集成电路直接电光采样测试系统.采用共轴反射式光路,对样品进行背面直接采样.用研制的微波探针在片驱动GaAs高速数字集成电路管芯,使之处于正常工作状态.测试系统的时间分辨率高于20ps,空间分辨率为3μm.利用该系统在片检测了GaAs高速数字集成电路动态分频器内部的高速电信号.
孙伟田小建贾刚孙建国衣茂斌马振昌王国全
关键词：电光采样砷化镓数字集成电路
砷化镓高速集成电路内部电信号的光探针直接取样
1994年
本文介绍了电光取样技术原理报道了砷化镓高速集成电路内部电信号在片直接电光取样测量系统，它的时间分辨率优于２０ｐｓ，空间分辨率优于３μｍ。通过对砷化镓共面波导的测量证实该系统可以对砷化镓高速集成电路内部电信号进行在片直接电光取样测量。
贾刚衣茂斌孙伟曹杰王佳生孙建国高鼎三
关键词：高速集成电路砷化镓
砷化镓共面波导内部微波信号的电光取样检测
1995年
本文报道了共轴反射式电光取样系统。该系统时间分辨率不低于20ps,空间分辨率不低于3μm。用它检测了砷化镓共面波导内部的微波信号。这套系统将被应用于砷化镓高速集成电路内部特性的在片检测。
贾刚衣茂斌孙伟曹杰孙建国王佳生秦莉高鼎三
关键词：集成电路共面波导在线检测
GaAs高速动态分频器在片测试研究被引量：2
1996年
本文研制出多触头微波探针，建立了微波探针在片检测系统．针对ＧａＡｓ高速集成电路──动态分频器电路芯片进行了在片测试和筛选．
孙伟田小建孙建国贾刚衣茂斌马振昌王国全
关键词：分频器GAAS在片测试
倍频移相扫描法电光采样测量被引量：3
1997年
分析了倍频移相扫描法的工作原理，介绍了用倍频移相扫描法构成的电光采样测量系统．测量了高速ＧａＡｓ动态分频器集成电路芯片，并给出分频关系波形的测量结果．
田小建衣茂斌孙伟贾刚孙建国马振昌
关键词：电光采样集成电路芯片分频
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