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张东

作品数:28 被引量:69H指数:4
供职机构:北京自动测试技术研究所更多>>
发文基金:北京市自然科学基金北京市科学技术研究院科技创新工程项目教育部“新世纪优秀人才支持计划”更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术经济管理电气工程更多>>

文献类型

  • 26篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

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主题

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  • 2篇可测试性
  • 2篇可测试性设计

机构

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作者

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年份

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  • 1篇2012
  • 8篇2011
  • 3篇2010
  • 2篇2009
  • 2篇2003
  • 2篇2002
28 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
空间用元器件热真空试验评价方法研究被引量:2
2011年
空间用元器件热真空试验是空间环境模拟试验中非常重要的一项试验,文章通过对空间用元器件热真空环境应力的分析,给出了不同轨道的温度范围以及不同真空度下空间用元器件的物理效应;对空间用元器件热真空试验评价方法进行了研究和探讨,在参照组件、分系统、整星热真空试验方法的基础上,提出了器件级热真空试验程序。介绍了已开展的DC/DC混合集成电路和双向收发器单片集成电路的热真空试验情况和试验结果。试验结果表明,通过热真空试验,可以对空间用元器件热真空环境下的性能和可靠性进行试验评价,为航天用户单位合理选用空间用元器件提供科学依据。
阳辉白桦刘燕芳哈文慧张东
关键词:元器件热真空试验
电路板故障诊断系统的快速控制原型方法研究被引量:2
2013年
电路板故障诊断系统的核心是各种智能故障诊断方法的设计与参数确定,本文提出一种将快速控制原型技术应用到PCB故障诊断系统中算法设计和验证的方法,在MATLAB环境下利用RTWT提供的NI数据采集卡驱动,实现Simulink中的实时测量。这样做的好处是,可将MATLAB的多种智能算法工具箱所实现的算法与实际诊断数据结合,优化故障诊断算法及其参数,并为实际代码生成做好准备。
史宏亮张东刘春来
关键词:快速控制原型
液晶屏显示驱动芯片测试技术研究被引量:2
2016年
液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用于该类芯片的测试,目前该技术主要掌握在国外企业手中,因此在驱动芯片设计与制造的产业链中,测试技术已成为制约发展的一个瓶颈。针对此背景,本文提出一套高效、实用测试方法,采用多通道与高压模拟通道同步测试技术、色阶测试技术、特殊封装的适应性技术和ATE等技术,可以实现减少测试费用、提高驱动芯片测试吞吐量的同时也能保证客户对芯片质量的严格要求。
濮德龙刘春来张东
关键词:芯片测试
IEEE 1149.4标准实验测试结构设计和扩展研究
2012年
本文采用复杂可编程逻辑器件(CPLD)和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块(ABM)开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模拟输入信号与多个电压进行比较。当测试者在简单互连或扩展互连中遇到桥接故障,扩展的ABM开关结构使得故障更容易探测。
刘林生张东陈建新
关键词:IEEE混合信号电路测试
IEEE1149.4模拟和混合信号测试总线标准
2011年
模拟和混合信号边界扫描标准(IEEE1149.4)是针对电路板级外部分立元件的测试而发展起来的,该标准与IEEE1149.1兼容,另外,在此基础上,IEEE1149.4又增加了两根线,用来控制模拟信号。目前1149.4的标准,不但应用在传统的电路板上,在混合信号集成电路甚至包含混合信号的SoC系统芯片上,都有应用。本文主要描述该测试标准的基本架构,提出系统测量方法及应用实例,希望对于该标准在国内的应用有一定推广意义。
姜岩峰张东王鑫
关键词:混合信号
混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现
IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能。文章以IEEE1149.4标准为基...
杨兵姜岩峰张东
关键词:混合信号集成电路边界扫描测试可测试性设计
文献传递
集成电路测试业发展模式的探索与实践被引量:2
2002年
1、概述众所周知,集成电路产业的业务链主要包括设计、芯片生产、封装和测试四个部份,其中集成电路测试业务贯穿在集成电路设计、芯片生产、封装以及集成电路应用的全过程,完成集成电路设计的验证测试、制定集成电路产品技术规范的相关测试,大批量芯片中测和成品测试,以及用户的入库检测等一系列检测任务,确保集成电路产品的高质量。为完成集成电路产业赋予集成电路测试业的检测任务,集成电路测试业必须具备下列三个方面的能力:
张东
关键词:半导体产业
集成电路测试业的挑战与机遇
2003年
集成电路作为信息产业的基础和高新技术产业的核心,已被列为'十五'计划重点发展的领域。集成电路产业链为设计、制造、封装、测试四业并举,国外和台湾地区集成电路测试业公司进军大陆的严峻形势,给国内集成电路测试业带来挑战也带来发展的大好机遇。
张东
数字接收机中CIC滤波器的设计被引量:25
2011年
CIC(cascaded integrator comb)滤波器的结构简单,需要的存储量小,是被证明在高速抽取和插值系统中非常有效的单元。它主要用于采样速率的抽取,同时具有低通滤波的作用。CIC滤波器的主要特点是,仅仅利用加法器、减法器和寄存器,因此占用资源少、实现简单且速度高。介绍了CIC滤波器的基本组成原理,并在此基础上,提出了滤波器的各项参数的选择和设计CIC滤波器的基本方法,用Verilog HDL语言在FPGA和MATLAB上分别进行了仿真,并且验证了设计的可靠性和可行性。
姜岩峰张东于明
关键词:积分梳状滤波器MATLABVERILOGHDL
基于带隙基准源电路的噪声分析被引量:10
2011年
噪声是制约电路特性的重要因素之一,提出通过优化电路降低噪声的方法,并在带隙基准源电路中实现。首先分析了电路噪声的主要来源,并针对带隙基准电路中不同元件的工作特点进行噪声源分析,根据该电路的系统结构推导出传递函数,进而得到电路噪声输出表达式。在综合考虑MOS器件热噪声和闪烁噪声对输出噪声的贡献后,根据具体表达式提出电路优化方法,对高精度模数转换器中带隙基准源电路的器件尺寸进行改进后,仿真结果表明,电路噪声减小了70%以上,噪声最大值仅为24,满足了高精度ADC电路的需要。
张东姜岩峰于明
关键词:噪声带隙基准电路版图
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