刘春来
- 作品数：15 被引量：8H指数：2
- 供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
- 发文基金：北京市科学技术研究院科技创新工程项目更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信电气工程更多>>
- 基于PXI总线的电路板级功能测试系统被引量：4
- 2013年
- 本文研究了一种PXI总线的数字电路板板级自动测试系统,该方法针对传统的测试方法速度低的问题,提出了应用速度高达132Mbyte/s的PXI总线进行通讯的测试方案;针对传统的测试方法可靠性、可维护性的问题,提出了应用NI高速稳定的板卡的测试方案。文章首先说明自动测试系统架构、组成及原理,在此基础上根据实际项目的要求,针对系统的硬件设计、通用测试接口、软件开发等方面进行具体阐述。
- 刘春来张东史宏亮
- 关键词：自动测试系统PXI总线
- RFID芯片测试系统中应用xPC实现的频谱分析
- 2014年
- 频谱分析在RFID芯片起着比较重要的作用,通常是采用频谱分析仪的硬件完成此工作,采用软件方法测试可加强测试系统的通用性。本文提出一种利用MATLAB的xPC目标结合Simulink程序实现频谱分析的方法,本方法能更方便的应用诸如小波分析、神经网络、模糊等智能工具箱进行信号的分析和提取。
- 刘春来张东史宏亮
- 关键词：频谱分析RFID芯片测试XPC
- 基于虚拟仪器的RFID芯片测试系统被引量：1
- 2014年
- 本文研究了一种基于虚拟仪器技术的RFID芯片测试系统,可完成对RFID芯片各种功能性的测试,通过软件自定义及运用模块化仪器高度的灵活性,用相同的硬件配置在软件层实现对RFID多标准的支持,使用同一测试系统硬件就能够对不同标准的RFID标签进行测试。
- 刘春来张东赵永峰
- 关键词：虚拟仪器RFID
- 基于EtherCAT的液晶驱动测试数字化管理技术
- 2016年
- 液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多,单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大,若使用人工记录的方式,则测试效率低下,管理成本高昂。有必要针对整个测试系统开发数字化管理技术,利用该技术可以将系统中所有的设备、人员、数据进行数字化管理。为实现数据交换的实时性和高效性,系统采用了工业以太网EtherCAT技术,实现服务器与设备客户端的紧密工作。经验证表明,通过使用这些技术,能够提高记录测试历史数据的方便性、快捷性、提高系统可扩展性,使得系统只需添加设备客户端或给客户端添加硬件模块并升级系统软件,便可方便的完成系统升级。
- 刘春来张东
- 关键词：芯片测试工业以太网
- 用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置
- 本实用新型公开了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置，包括用于检验IC驱动引脚输出电压的电压检测装置，所述检测装置入口端还连接有数字采样器；本实用新型的优点在于：能够满足显示色彩的深度比较高、驱动电压的测试精度比...
- 刘春来张东
- 文献传递
- 一种电路板智能检测方法
- 本发明公开了一种电路板智能检测方法，通过对数据采集卡的模拟和数字输出端口进行编程来实现检测向量的生成，然后，通过采集模拟和数字器件的反馈信号进行分析和处理来实现电路板上元器件的检测；本发明的优点在于：方法快速简单易行，准...
- 张东哈文慧濮德龙刘春来
- 文献传递
- 基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法
- 本发明公开了一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法。该方法采用微处理器集成开发工具为测试模型产生可执行模块，并通过自动矢量生成技术产生完备的测试矢量集。测试矢量集包含IEEE1149.1协议，实现在线下载测试代码...
- 蒋常斌刘春来黎云浩李力军高剑李杰于明
- 文献传递
- 用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置
- 本实用新型公开了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，包括测试机和探针卡，所述的测试机和探针卡之间直接扣接；所述探针卡是CP测试时连接所述测试机与母板的设备；所述母板与所述测试机的测试通道相连，所述探针卡安装在所...
- 刘春来张东
- 文献传递
- 电路板故障诊断系统的快速控制原型方法研究被引量：1
- 2013年
- 电路板故障诊断系统的核心是各种智能故障诊断方法的设计与参数确定,本文提出一种将快速控制原型技术应用到PCB故障诊断系统中算法设计和验证的方法,在MATLAB环境下利用RTWT提供的NI数据采集卡驱动,实现Simulink中的实时测量。这样做的好处是,可将MATLAB的多种智能算法工具箱所实现的算法与实际诊断数据结合,优化故障诊断算法及其参数,并为实际代码生成做好准备。
- 史宏亮张东刘春来
- 关键词：快速控制原型
- 液晶屏显示驱动芯片测试技术研究被引量：2
- 2016年
- 液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用于该类芯片的测试,目前该技术主要掌握在国外企业手中,因此在驱动芯片设计与制造的产业链中,测试技术已成为制约发展的一个瓶颈。针对此背景,本文提出一套高效、实用测试方法,采用多通道与高压模拟通道同步测试技术、色阶测试技术、特殊封装的适应性技术和ATE等技术,可以实现减少测试费用、提高驱动芯片测试吞吐量的同时也能保证客户对芯片质量的严格要求。
- 濮德龙刘春来张东
- 关键词：芯片测试
