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黄威

作品数：5 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院半导体研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇专利
  • 1篇会议论文

主题

  • 3篇半导体
  • 2篇导体
  • 2篇信号
  • 2篇信号采集
  • 2篇信号采集系统
  • 2篇铁磁
  • 2篇铁磁半导体
  • 2篇偏振
  • 2篇钛蓝宝石激光...
  • 2篇蓝宝石激光器
  • 2篇激光
  • 2篇激光器
  • 2篇光电
  • 2篇光电流
  • 2篇光学
  • 2篇光学平面
  • 2篇宝石激光器
  • 2篇测试系统
  • 2篇磁各向异性
  • 1篇调制

机构

  • 5篇中国科学院

作者

  • 5篇陈涌海
  • 5篇刘雨
  • 5篇黄威
  • 4篇李远
  • 3篇高寒松
  • 2篇张宏毅

传媒

  • 1篇第13届全国...

年份

  • 1篇2019
  • 2篇2016
  • 2篇2014
共 5 条 记 录，以下是 1-5
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排序方式：
自支撑GaN位错应变场的研究
在GaN外延材料中,存在着大量的位错,这些位错对GaN基材料和器件的电学和光学性质有着极大的影响.位错是由于GaN在生长过程中热应力(或其他外力)作用,使GaN中某一部分(沿滑移面)发生滑移,已滑移区与未滑移区的分界线称...
高寒松陈涌海刘雨黄威张宏毅
关键词：位错应变场
铁磁半导体平面内磁各向异性的光电流测试系统及方法
一种铁磁半导体平面内磁各向异性的光电流测试系统，包括钛蓝宝石激光器、斩波器、起偏器、光弹性调制器、光阑、光学平面反射镜、变温冷热台装置、直流电压源以及由两台锁相放大器、计算机组成的数据采集和存储系统。以及采用所述测试系统...
邬庆刘雨李远黄威陈涌海
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测量半导体材料表面微结构缺陷的显微成像装置和方法
本发明公开了一种测量半导体材料表面微结构缺陷的显微成像装置和方法。所述测试装置包括：光源、偏振调制反射差分系统、分光棱镜、扫描平台、共聚焦显微系统、信号采集系统。根据光弹性效应原理以及晶体缺陷理论可知，半导体材料表面的微...
黄威陈涌海刘雨高寒松李远邬庆
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材料的微区应力测试系统
本发明公开了一种材料的微区应力测试系统，其采用微区透射差分偏振谱法(μ-TDS，microscopic transmission difference spectroscopy)建立。整个测试系统包括线偏振激光源(1)、...
高寒松陈涌海刘雨张宏毅黄威朱来攀李远邬庆
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铁磁半导体平面内磁各向异性的光电流测试系统及方法
一种铁磁半导体平面内磁各向异性的光电流测试系统，包括钛蓝宝石激光器、斩波器、起偏器、光弹性调制器、光阑、光学平面反射镜、变温冷热台装置、直流电压源以及由两台锁相放大器、计算机组成的数据采集和存储系统。以及采用所述测试系统...
邬庆刘雨李远黄威陈涌海
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