您的位置: 专家智库 > >

胡凤春

作品数:3 被引量:3H指数:1
供职机构:中国科学技术大学核科学技术学院国家同步辐射实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金上海市教育委员会重点学科基金更多>>
相关领域:电子电信理学一般工业技术更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 2篇导体
  • 2篇半导体
  • 1篇电子结构
  • 1篇电子结构和磁...
  • 1篇原子
  • 1篇子结构
  • 1篇微观结构
  • 1篇稀磁半导体
  • 1篇局域结构
  • 1篇共掺
  • 1篇共掺杂
  • 1篇半导体薄膜
  • 1篇XAFS
  • 1篇X射线吸收谱
  • 1篇ZNO基稀磁...
  • 1篇EXAFS研...
  • 1篇LI
  • 1篇掺杂
  • 1篇磁性半导体

机构

  • 3篇中国科学技术...
  • 1篇复旦大学
  • 1篇中国科学院上...

作者

  • 3篇胡凤春
  • 1篇施立群
  • 1篇杨铁莹
  • 1篇闫文盛
  • 1篇孙治湖
  • 1篇承焕生
  • 1篇李敏
  • 1篇王建中
  • 1篇文闻
  • 1篇张斌
  • 1篇谈浩
  • 1篇段恒利
  • 1篇陈琳

传媒

  • 1篇中国科学技术...
  • 1篇核技术

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2012
  • 1篇2009
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
共掺杂(Cr,Cu,Li)调控Co原子在Co掺杂的ZnO磁性半导体中的分布
2016年
利用X射线吸收谱(XAFS)和X射线光电子能谱(XPS)等技术研究了共掺杂原子(Li,Cu,Cr)对Co原子在Co掺杂ZnO薄膜中分布形式的影响.在共掺杂前,Co原子以替代Zn原子的替代位和金属Co团簇两种形式存在.共掺杂Cr原子后,样品中的Co团簇消失,掺杂的Co原子只以替代位的形式分布在ZnO基体中.与之相反,共掺杂Cu(Li)原子后,样品中的Co团簇含量显著增加.进一步分析表明,共掺杂的Cr原子与Cu(Li)对Co原子分布形式具有截然不同的调控作用是与共掺杂原子在ZnO基体中的空间占位特点密切相关.
陈琳胡凤春谈浩段恒利孙治湖闫文盛
关键词:共掺杂
SR-XRD和EXAFS研究Mn掺杂ZnO薄膜的微观结构被引量:3
2012年
用射频磁控溅射技术在蓝宝石衬底上制备了一组不同衬底温度的Mn掺杂ZnO薄膜。质子激发X射线荧光(PIXE)测量表明,薄膜中仅有含量为5 at.%的Mn,未见其它磁性杂质元素(如Fe、Co、Ni等)。同步辐射X射线衍射(SR-XRD)表明,这些Mn掺杂ZnO薄膜具有纤锌矿ZnO结构。SR-XRD和扩展X射线吸收精细结构谱(EXAFS)分析显示,薄膜中未发现Mn团簇或MnO、MnO2、Mn2O3、Mn3O4等二次相,Mn原子是通过替代Zn原子而进入了ZnO晶格。
张斌李敏王建中施立群承焕生杨铁莹文闻胡凤春
关键词:微观结构
ZnO基稀磁半导体的电子结构和磁性研究
本论文主要利用同步辐射X射线吸收精细结构(XAFS)技术,并结合其它多种实验手段从实验和理论两方面联合研究了不同方法制备的过渡金属掺杂ZnO基稀磁半导体体系的结构和性能。采用溶胶-凝胶(sol-gel)法和脉冲激光沉积(...
胡凤春
关键词:稀磁半导体电子结构局域结构半导体薄膜
文献传递
共1页<1>
聚类工具0