仇志杰
- 作品数：17 被引量：4H指数：2
- 供职机构：中国科学院电工研究所更多>>
- 相关领域：电气工程电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 一种温度敏感电参数标定方法
- 一种温度敏感电参数标定方法，步骤如下：(1)将被测器件的控制极和电流流入极短路；(2)被测器件的电流流入极和电流流出极间通入加热电流，测量此时被测器件的控制极与电流流出极电压；(3)解除被测器件的控制极和电流流入极间的短...
- 张瑾仇志杰张二雄
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- 结壳热阻测试方法
- 一种结壳热阻测试方法，包括以下步骤：（1）测量干接触条件下待测器件的瞬态降温曲线；（2）测量湿接触条件下待测器件的瞬态降温曲线；（3）计算干接触条件下的瞬态降温曲线和湿接触条件下的瞬态降温曲线温度变化幅度的差△T；（4）...
- 仇志杰张瑾温旭辉
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- 功率半导体器件寄生电容测试装置
- 一种功率半导体器件寄生电容测试装置，其第一滤波电容的一端与高端电压端子和高端电流端子相连，另一端与滤波电感、第二滤波电容及集电极端子相连，高端电压端子和高端电流端子在内部短接。第二滤波电容的一端与集电极端子相连，另一端与...
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- 电力电子器件的加速寿命测试电路及测试方法
- 一种电力电子器件的加速寿命测试电路，其第一开关(K1)的一端与被测器件的漏极(D)相连，第一开关(K1)的另一端与被测器件的栅极(G)相连。放电电阻(R1)的一端与被测器件的栅极(G)相连，放电电阻(R1)的另一端与被测...
- 张瑾仇志杰
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- 一种功率半导体芯片测试用覆铜陶瓷基板
- 一种功率半导体芯片测试用覆铜陶瓷基板，自上而下依次为：上铜层（0101）、陶瓷层（0102）、下铜层（0103）。上铜层（0101）刻蚀有正电极区（0201）、公共电极区（0202）、负电极区（0203）、第一门极区（0...
- 张瑾仇志杰温旭辉
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- 一种功率器件剩余寿命预测方法
- 本发明提供一种功率器件剩余寿命预测方法，包括：获得功率器件在不同应力水平下的老化过程的全生命周期数据和退化表征量‑循环次数数据；拟合应力‑寿命数据建立其解析寿命模型；将功率器件在不同应力水平下的退化表征量‑循环次数数据表...
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- 一种可在线测量MOSFET功率模块键合线老化状态的方法及装置
- 本发明涉及功率半导体器件的键合线老化状态测量技术领域，公开了一种可在线测量MOSFET功率模块键合线老化状态的方法及装置，其中方法，从第一导通压降所属的第一导通压降映射关系曲线图中确定反向导通电流对应的第五导通压降，计算...
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- 一种功率半导体芯片测试用覆铜陶瓷基板
- 一种功率半导体芯片测试用覆铜陶瓷基板，自上而下依次为：上铜层（0101）、陶瓷层（0102）、下铜层（0103）。上铜层（0101）刻蚀有正电极区（0201）、公共电极区（0202）、负电极区（0203）、第一门极区（0...
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- 一种功率半导体芯片测试工装
- 一种功率半导体芯片测试工装，其上盖板（04）顶部的中间位置安装有三组大电流探针（06）和六组测量探针（07）；负电极片（12）和第一垫块（08）分别穿过一组大电流探针和两组大电流探针与上盖板（04）的顶部接触。第一垫块（...
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- 基于老化补偿的功率模块全生命周期在线结温监测方法被引量：2
- 2024年
- 功率模块结温在线监测对提升系统性能和可靠性具有重要意义。应用导通饱和压降和电流对结温进行估计,对测量带宽要求不高,对硬件和算法的侵入性低,是比较理想的结温在线监测方法。但是传统的测量方法很难满足结温精度要求,另外长期工作下功率模块老化会引起温度模型参数漂移,进一步加剧结温估计误差。为此,该文提出一套高精度测量电路和采样校准策略,应用温漂抑制、动态自适应采样、误差定向标定、同步时序控制等策略,大幅提高了在线采样分辨率和结温估计精度。针对老化问题,提出一种基于大电流注入的急停控制策略,解决了老化特征参数在线辨识问题,实现了结温模型的老化补偿,大大提高了老化后的结温监测精度,实现了全生命周期高精度在线监测。最后,在250kW三相变流器平台上进行了实验验证,得到老化前后的结温估计误差,证明了该文方法对提高结温监测精度具有明显效果。
- 郑丹宁圃奇仇志杰范涛温旭辉
- 关键词：参数辨识
