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赵全斌

作品数:3 被引量:2H指数:1
供职机构:中国科学院上海微系统与信息技术研究所更多>>
发文基金:国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:自动化与计算机技术一般工业技术更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇自动化与计算...
  • 2篇一般工业技术

主题

  • 3篇压阻
  • 3篇压阻检测
  • 3篇谐振特性
  • 2篇谐振
  • 1篇生化
  • 1篇生化检测
  • 1篇离子注入
  • 1篇纳机电系统

机构

  • 3篇中国科学院
  • 1篇中国科学院研...

作者

  • 3篇赵全斌
  • 2篇焦继伟
  • 2篇杨恒
  • 1篇李铁
  • 1篇张颖
  • 1篇王跃林
  • 1篇林梓鑫

传媒

  • 1篇传感技术学报
  • 1篇第八届中国微...

年份

  • 1篇2007
  • 2篇2006
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
基于压阻检测的双端固支硅纳米梁谐振特性研究被引量:1
2006年
我们利用压阻检测法对双端固支硅纳米梁的谐振特性进行了研究.在(111)硅衬底上,用KOH选择性腐蚀制作出了厚度约为242nm的双端固支硅纳米梁;对梁上表面采用Ar离子进行局部轰击,受轰击侧的原子结构遭到破坏,电导率显著下降,未受轰击侧原子结构则保持原掺杂结构,在梁厚度方向形成非对称掺杂,表现出压阻特性.利用该局部压阻,我们首次完成了对双端固支硅纳米梁的谐振特性的测量,其共振频率为400kHz;同时,我们对获得的低Q值进行了初步讨论.
赵全斌焦继伟杨恒林梓鑫李铁张颖王跃林
关键词:压阻检测谐振特性
基于压阻检测的双端固支硅纳米梁研究
NEMS谐振器作为痕量传感器在生化检测等领域应用获得广泛关注,而纳米尺度下器件的谐振特性检测成为一个关键技术问题。在硅基谐振器特性的主要检测方法中,压阻检测方法因易于实现、易于与器件集成等优点而应用甚多,但是在纳米厚度的...
赵全斌
关键词:压阻检测离子注入谐振特性生化检测
文献传递
基于压阻检测的双端固支硅纳米梁谐振特性研究
我们利用压阻检测法对双端固支硅纳米梁的谐振特性进行了研究.在(111)硅衬底上,用KOH选择性腐蚀制作出了厚度约为242 nm的双端固支硅纳米梁;对梁上表面采用Ar离子进行局部轰击,受轰击侧的原子结构遭到破坏,电导率显著...
赵全斌焦继伟杨恒林梓鑫李铁张颖王跃林
关键词:压阻检测谐振特性
文献传递
共1页<1>
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