您的位置： 专家智库 > >

马菁汀

作品数：9 被引量：1H指数：1
供职机构：西安电子科技大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 8篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 4篇芯片
  • 4篇CCD芯片
  • 3篇图像
  • 3篇非线性
  • 3篇测量系统
  • 2篇单色光
  • 2篇压缩数据
  • 2篇遥感
  • 2篇遥感成像
  • 2篇平行平板
  • 2篇陀螺
  • 2篇线性校正
  • 2篇谐振
  • 2篇谐振法
  • 2篇芯片性能
  • 2篇激光
  • 2篇激光陀螺
  • 2篇非线性校正
  • 2篇分辨率
  • 2篇编码图像

机构

  • 9篇西安电子科技...

作者

  • 9篇马菁汀
  • 8篇邵晓鹏
  • 6篇王杨
  • 6篇许宏涛
  • 5篇钟宬
  • 4篇黄远辉
  • 4篇卢光旭
  • 4篇杨晓晖
  • 4篇范华
  • 3篇徐大雍
  • 3篇王阳
  • 3篇乔琳
  • 3篇陈朝康
  • 3篇靳振华
  • 2篇吕斐
  • 2篇乔林
  • 2篇饶存存
  • 2篇侯谨妍
  • 2篇刘飞
  • 2篇徐大庸

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 6篇2012
  • 1篇2011
共 9 条 记 录，以下是 1-9
全选 清除 导出
排序方式：
基于压缩编码孔径的超分辨率成像系统及成像方法
本发明公开了基于压缩编码孔径的超分辨率成像系统及成像方法，主要解决现有技术成像代价昂贵的问题。其实现步骤为：设计卷积模板，并根据光源的相干性来制作编码孔径；将制作好的编码孔径置于光学系统中孔径光阑的位置并按下快门成像，获...
邵晓鹏钟宬靳振华范华黄远辉卢光旭徐大雍马菁汀饶存存侯谨妍乔琳
测量CCD芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法
本发明公开了一种测量CCD芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法。主要解决目前对CCD的性能参数测量精确度不够的问题。其实现步骤为：选取CCD芯片量子效率最大所对应的波长η，设置波长可调的单色均匀光源系统，产生波长为...
邵晓鹏王阳张临临王杨杨晓晖范华卢光旭马菁汀吕斐许宏涛
文献传递
测量CCD芯片量子效率与响应度参数的方法
本发明公开了一种测量CCD芯片量子效率与响应度参数的方法，主要解决现有技术测量精确度低的问题。其实现步骤为：等间隔选择一系列波长，分别利用这些波长值设置波长可调单色均匀光源系统，产生相应波长的单色光，然后按要求拍摄图像信...
邵晓鹏吕斐陈朝康王杨许宏涛乔林杨晓晖徐大庸马菁汀
文献传递
基于谐振法的激光陀螺光学谐振腔损耗测量系统
本发明公开了一种激光陀螺谐振腔损耗测量系统，主要解决了现有测量系统需要另外系统完成压电陶瓷非线性校正的问题。整个测量系统包括激光器(1)、球面反射镜(2)、二维平行平板(3)、偏振片(4)、1/2波片(5)、谐振腔固定装...
邵晓鹏马菁汀陈朝康林见杰王杨钟宬许宏涛黄远辉王阳杨晓晖
文献传递
测量CCD芯片灵敏度、线性度和暗噪声相关参数的方法
本发明公开了一种测量CCD芯片灵敏度、线性度和暗噪声相关参数的方法，主要解决现有技术测量精确度低和测量参数不全面的问题。其实现步骤为：选取CCD芯片量子效率最大所对应的波长η，设置波长可调单色均匀光源系统，产生波长为η的...
邵晓鹏许宏涛乔林王杨马菁汀徐大庸钟宬刘飞靳振华
文献传递
CCD控制电路研究与实现
CCD是一种以电荷为信号载体的图像传感器，是现代光电子技术发展过程中最重要的成果之一，并以其高灵敏度、低噪声等突出优点，广泛应用于高端数字成像领域。目前，我国在CCD芯片和相机研制方面发展较为落后，少数单位虽具有CCD相...
马菁汀
关键词：控制电路现场可编程逻辑阵列图像传感器
CCD芯片性能参数的测量系统
本发明公开了一种CCD芯片性能参数的测量系统，主要解决现有系统不具有通用性、测量参数不全面和光谱范围窄的不足。整个系统包括可调单色光源系统(1)、积分球(4)、暗室(5)、杜瓦瓶温控室(9)、皮安表(10)、主控电路系统...
邵晓鹏王杨刘飞许宏涛马菁汀徐大雍卢光旭范华杨晓辉乔琳
文献传递
基于压缩编码孔径的超分辨率成像方法
本发明公开了基于压缩编码孔径的超分辨率成像系统及成像方法，主要解决现有技术成像代价昂贵的问题。其实现步骤为：设计卷积模板，并根据光源的相干性来制作编码孔径；将制作好的编码孔径置于光学系统中孔径光阑的位置并按下快门成像，获...
邵晓鹏钟宬靳振华范华黄远辉卢光旭徐大雍马菁汀饶存存侯谨妍乔琳
文献传递
基于谐振法的激光陀螺光学谐振腔损耗测量系统
本发明公开了一种激光陀螺谐振腔损耗测量系统，主要解决了现有测量系统需要另外系统完成压电陶瓷非线性校正的问题。整个测量系统包括激光器(1)、球面反射镜(2)、二维平行平板(3)、偏振片(4)、1/2波片(5)、谐振腔固定装...
邵晓鹏马菁汀陈朝康林见杰王杨钟宬许宏涛黄远辉王阳杨晓晖
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0