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许宏涛
作品数:
15
被引量:8
H指数:1
供职机构:
西安电子科技大学
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相关领域:
电子电信
自动化与计算机技术
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合作作者
邵晓鹏
西安电子科技大学
王杨
西安电子科技大学
刘飞
西安电子科技大学
杨晓晖
西安电子科技大学
黄远辉
西安电子科技大学
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西安电子科技...
作者
15篇
许宏涛
14篇
邵晓鹏
7篇
黄远辉
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杨晓晖
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刘飞
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王杨
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马菁汀
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王阳
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裸眼3D显示设备的性能指标测试方法及测试系统
本发明公开了一种裸眼3D显示设备的性能指标测试方法及测试系统,主要解决现有测试技术仅针对分时和分光设备且仅依靠局部信息进行性能评估,且不能对裸眼3D显示设备性能进行测试的问题。其实现方案是:根据人眼视觉系统对立体图像感知...
邵晓鹏
杨虹
黄远辉
许宏涛
钟宬
吕斐
龚昌妹
吴腾飞
王旭
乔琳
刘飞
靳振华
文献传递
测量CCD芯片暗电流和双倍温度常数的方法
本发明公开了一种测量CCD芯片暗电流和双倍温度常数的方法。其实现步骤为:将CCD芯片置于杜瓦瓶温控室当中,该温控室密封不透光,设置参考温度使CCD芯片工作于该温度下;再通过控制电路控制CCD芯片拍摄图像信息,上传至计算机...
邵晓鹏
杨晓晖
黄远辉
刘飞
靳振华
王阳
张临临
梁凤明
张崇辉
许宏涛
LED显示屏非均匀性在线校正系统和校正方法
本发明公开了一种LED显示屏非均匀性在线校正系统和校正方法,主要解决现有测试方法仅针对亮度均匀性、所测得亮度均匀性指标不能反映LED显示屏全局性能且无法根据测试数据进行非均匀性校正的问题。本发明用相机采集LED显示屏显示...
邵晓鹏
黄远辉
许宏涛
杨虹
吕斐
王阳
张临临
刘飞
乔琳
钟宬
杨晓晖
文献传递
测量CCD芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法
本发明公开了一种测量CCD芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法。主要解决目前对CCD的性能参数测量精确度不够的问题。其实现步骤为:选取CCD芯片量子效率最大所对应的波长η,设置波长可调的单色均匀光源系统,产生波长为...
邵晓鹏
王阳
张临临
王杨
杨晓晖
范华
卢光旭
马菁汀
吕斐
许宏涛
文献传递
激光模式与光阑的相对位置测量系统及其测量方法
本发明公开了一种激光模式与光阑的相对位置测量系统及其测量方法,主要解决现有系统测量精度低的不足。整个系统包括激光器(1)、光学系统(15)、待测谐振腔(6)、分光镜(7)、全反镜(8)、图像采集与数据采集系统(16)、主...
邵晓鹏
徐大雍
龚昌妹
王锐
许宏涛
范华
梁凤明
卢光旭
董文晓
文献传递
基于谐振法的激光陀螺光学谐振腔损耗测量系统
本发明公开了一种激光陀螺谐振腔损耗测量系统,主要解决了现有测量系统需要另外系统完成压电陶瓷非线性校正的问题。整个测量系统包括激光器(1)、球面反射镜(2)、二维平行平板(3)、偏振片(4)、1/2波片(5)、谐振腔固定装...
邵晓鹏
马菁汀
陈朝康
林见杰
王杨
钟宬
许宏涛
黄远辉
王阳
杨晓晖
文献传递
激光模式与光阑的相对位置测量系统及其测量方法
本发明公开了一种激光模式与光阑的相对位置测量系统及其测量方法,主要解决现有系统测量精度低的不足。整个系统包括激光器(1)、光学系统(15)、待测谐振腔(6)、分光镜(7)、全反镜(8)、图像采集与数据采集系统(16)、主...
邵晓鹏
徐大雍
龚昌妹
王锐
许宏涛
范华
梁凤明
卢光旭
董文晓
测量CCD芯片量子效率与响应度参数的方法
本发明公开了一种测量CCD芯片量子效率与响应度参数的方法,主要解决现有技术测量精确度低的问题。其实现步骤为:等间隔选择一系列波长,分别利用这些波长值设置波长可调单色均匀光源系统,产生相应波长的单色光,然后按要求拍摄图像信...
邵晓鹏
吕斐
陈朝康
王杨
许宏涛
乔林
杨晓晖
徐大庸
马菁汀
文献传递
测量CCD芯片暗电流和双倍温度常数的方法
本发明公开了一种测量CCD芯片暗电流和双倍温度常数的方法。其实现步骤为:将CCD芯片置于杜瓦瓶温控室当中,该温控室密封不透光,设置参考温度使CCD芯片工作于该温度下;再通过控制电路控制CCD芯片拍摄图像信息,上传至计算机...
邵晓鹏
杨晓晖
黄远辉
刘飞
靳振华
王阳
张临临
梁凤明
张崇辉
许宏涛
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自动化图像内容识别方法研究
自动化图像内容识别是提高生产自动化和信息采集自动化的重要组成部分,自动化图像内容识别的性能和处理精度在很大程度上决定了后续决策系统的决策正确性。该课题的研究成果可以大大提高相关领域的生产效率,同时也便利了人们的日常生活。...
许宏涛
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