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宗安州

作品数：10 被引量：0H指数：0
供职机构：清华大学更多>>
相关领域：文化科学金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 10篇中文专利

领域

  • 2篇文化科学
  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 6篇光谱
  • 6篇光谱发射率
  • 4篇电动势
  • 4篇热流计
  • 4篇关联函数
  • 4篇光学
  • 4篇光学常数
  • 4篇发射率
  • 4篇高温氧化
  • 4篇测量方法
  • 3篇硬件
  • 3篇硬件结构
  • 3篇热流
  • 2篇氧化层
  • 2篇氧化层厚度
  • 2篇实验台
  • 2篇数学
  • 2篇数学关系式
  • 2篇物性
  • 2篇物性参数

机构

  • 10篇清华大学

作者

  • 10篇宗安州
  • 10篇符泰然
  • 4篇刘江帆
  • 4篇周金帅
  • 4篇汤龙生
  • 4篇邓兴凯
  • 4篇庞传和
  • 2篇谈鹏
  • 2篇段明皓

年份

  • 2篇2017
  • 5篇2015
  • 3篇2013
共 10 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
测量金属氧化层高温光学常数的方法
本发明涉及一种测量金属氧化层高温光学常数的方法，包括如下步骤：S1、提供多份氧化金属样品，分别测量每份氧化金属样品的金属氧化层的厚度；S2、采用真空变角度高温光谱发射率测量实验台，在真空环境下，分别对每份氧化金属样品进行...
符泰然刘江帆宗安州汤龙生周金帅邓兴凯
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基于圆箔热流计的对流热流测量方法
本发明公开了一种基于圆箔热流计的对流热流测量方法，包括：建立圆箔热流计的对流热流测量数学模型，获得所述圆箔热流计的圆箔片温度分布函数；建立所述圆箔片中心温度与所述圆箔热流计的输出电动势的关联函数；测量所述圆箔热流计的输出...
符泰然宗安州庞传和
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基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统
本发明涉及材料的热物性参数测试技术领域，尤其涉及一种基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统。该测试系统包括水冷真空室、真空辐射加热单元、有效辐射腔体以及辐射测量与标定单元，通过水冷真空室、真空辐射加热单元、有效辐射腔体...
符泰然段明皓宗安州
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金属氧化层高温光学常数测量方法
本发明涉及一种金属氧化层高温光学常数测量方法，其包括以下步骤：S1、提供多份具有不同厚度金属氧化层的氧化金属样品，分别测量多份氧化金属样品的金属氧化层的厚度；S2、利用高温光谱发射率测量实验台，在真空环境下分别测量多份氧...
符泰然宗安州刘江帆谈鹏汤龙生周金帅邓兴凯
基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统
本发明涉及材料的热物性参数测试技术领域，尤其涉及一种基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统。该测试系统包括水冷真空室、真空辐射加热单元、有效辐射腔体以及辐射测量与标定单元，通过水冷真空室、真空辐射加热单元、有效辐射腔体...
符泰然段明皓宗安州
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金属氧化层高温光学常数测量方法
本发明涉及一种金属氧化层高温光学常数测量方法，其包括以下步骤：S1、提供多份具有不同厚度金属氧化层的氧化金属样品，分别测量多份氧化金属样品的金属氧化层的厚度；S2、利用高温光谱发射率测量实验台，在真空环境下分别测量多份氧...
符泰然宗安州刘江帆谈鹏汤龙生周金帅邓兴凯
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测量金属氧化层高温光学常数的方法
本发明涉及一种测量金属氧化层高温光学常数的方法，包括如下步骤：S1、提供多份氧化金属样品，分别测量每份氧化金属样品的金属氧化层的厚度；S2、采用真空变角度高温光谱发射率测量实验台，在真空环境下，分别对每份氧化金属样品进行...
符泰然刘江帆宗安州汤龙生周金帅邓兴凯
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基于圆箔热流计的对流热流测量方法
本发明公开了一种基于圆箔热流计的对流热流测量方法，包括：建立圆箔热流计的对流热流测量数学模型，获得所述圆箔热流计的圆箔片温度分布函数；建立所述圆箔片中心温度与所述圆箔热流计的输出电动势的关联函数；测量所述圆箔热流计的输出...
符泰然宗安州庞传和
基于圆箔热流计的瞬态辐射热流测量方法
本发明公开了一种基于圆箔热流计的瞬态热流测量方法，包括：建立圆箔热流计的瞬态辐射热流测量数学模型，获得所述圆箔热流计的圆箔片中心的瞬态温度分布函数；建立所述圆箔片中心的瞬态温度与所述圆箔热流计的瞬态输出电动势的关联函数；...
符泰然宗安州庞传和
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基于圆箔热流计的瞬态辐射热流测量方法
本发明公开了一种基于圆箔热流计的瞬态热流测量方法，包括：建立圆箔热流计的瞬态辐射热流测量数学模型，获得所述圆箔热流计的圆箔片中心的瞬态温度分布函数；建立所述圆箔片中心的瞬态温度与所述圆箔热流计的瞬态输出电动势的关联函数；...
符泰然宗安州庞传和
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