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张伟

作品数：1 被引量：31H指数：1
供职机构：清华大学信息科学技术学院高性能计算研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇嵌入式
  • 1篇嵌入式微处理...
  • 1篇微处理器
  • 1篇JTAG
  • 1篇处理器

机构

  • 1篇清华大学

作者

  • 1篇李兆麟
  • 1篇汪东升
  • 1篇张伟

传媒

  • 1篇计算机工程与...

年份

  • 1篇2004
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
一种基于JTAG的嵌入式微处理器片上可调试系统被引量：31
2004年
文章提出了一种基于JTAG的嵌入式微处理器片上的可调试系统。该系统在JTAG工业标准的基础上,能够以较少的硬件开销支持指令/数据断点设置、单步执行、寄存器内容查看和设置、内存内容查看和设置、在线编程以及微处理器运行现场设置等调试功能。文章首先介绍了嵌入式微处理器可调试设计的原理,其次介绍了嵌入式微处理器的调试系统设计,最后给出调试实例分析。
张伟李兆麟张闯汪东升
关键词：嵌入式微处理器JTAG
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