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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 1篇化学工程
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主题

  • 1篇低应力
  • 1篇多晶
  • 1篇多晶硅
  • 1篇多晶硅薄膜
  • 1篇压阻
  • 1篇压阻特性
  • 1篇应力
  • 1篇应力测试
  • 1篇正交
  • 1篇正交试验
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  • 1篇复合传感器
  • 1篇感器
  • 1篇高温高压
  • 1篇SI
  • 1篇充油

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇李海博
  • 1篇刘智辉
  • 1篇尹延昭
  • 1篇王晓光
  • 1篇田雷
  • 1篇李玉玲
  • 1篇郑丽
  • 1篇齐虹

传媒

  • 1篇微纳电子技术
  • 1篇中国新技术新...
  • 1篇科技创新与应...

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 1篇2010
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
多晶硅薄膜制备工艺及其应用发展被引量:1
2014年
多晶硅薄膜在一些半导体器件及集成电路中得到了广泛的应用。由于多晶硅生产成本低,效率稳定性好、光电转换效率高,多晶硅薄膜的研究备受关注。目前多晶硅薄膜已广泛地用于各种微电子器件的制造,其用途从栅极材料和互联引线发展到绝缘隔离、钝化、太阳能电池、各种光电器件等。文章介绍了制备多晶硅薄膜的多种工艺方法,结合现有工艺条件制作多晶硅纳米薄膜,根据多晶硅压阻特性理论进行了LPCVD纳米薄膜工艺试验,研究了工艺条件对多晶硅纳米薄膜应变系数的影响,选取了优化的工艺条件,为多晶硅纳米薄膜在今后压阻式压力传感器中的应用奠定基础。
李海博尹延昭郑丽
关键词:多晶硅压阻特性
充油式高温高压温度压力复合传感器被引量:5
2013年
将铂膜温度芯片和SOI压力芯片近距离装配在充油芯体内,进行真空充油后,温度和压力传感器芯片同时被硅油保护起来,再通过波纹膜膜片感受压力。由于温度芯片和压力芯片距离非常近,可以同时感受较小局部区域的温度信号和压力信号,解决了同时测量同一区域压力和温度信号的技术难题,同时对压力传感的温度补偿具有很好的效果。对所研制的充油式温度压力复合传感器进行了性能测试,结果表明,测试结果与设计相符,其中温度传感器的允差为A级,压力传感器的非线性优于0.2%FS,压力测量范围为0~75MPa,工作温度范围为-50~175℃。
田雷刘智辉李海博尹延召
关键词:复合传感器温度充油温度补偿
低应力Si_3N_4介质膜的制备工艺优化被引量:2
2010年
低应力Si3N4介质膜对于制作微结构传感器是非常重要的。本文通过采用正交试验设计,优化出Si3N4介质膜制备的低应力工艺参数,并给出了Si3N4薄膜应力的测试方法和测试结果。
李海博齐虹王晓光李玉玲
关键词:正交试验应力测试
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