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李红云

作品数:1 被引量:5H指数:1
供职机构:西安电子科技大学微电子学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇衰减器
  • 1篇相位
  • 1篇相位误差
  • 1篇CMOS开关
  • 1篇步进
  • 1篇步进式
  • 1篇插入损耗
  • 1篇插损

机构

  • 1篇西安电子科技...

作者

  • 1篇李振荣
  • 1篇杜永乾
  • 1篇庄奕琪
  • 1篇齐增卫
  • 1篇任小娇
  • 1篇张岩龙
  • 1篇李红云

传媒

  • 1篇西安电子科技...

年份

  • 1篇2015
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
一种5~20GHz低插损低相位误差的CMOS衰减器被引量:5
2015年
设计了一种具有低插入损耗、低相位误差的5位CMOS集总式衰减器.该衰减器基于0.18μm CMOS工艺,采用桥T和π形衰减结构,通过NMOS晶体管开关控制5个独立的衰减模块,在5-20GHz的工作频段范围内实现步长1dB、动态范围0-31dB的信号幅度衰减.其中,串联控制开关管采用体端通过电阻与源极相连的结构,在不增加寄生电容的前提下,降低导通电阻;并联控制开关采用体端交流悬浮结构,以提高整体衰减器的线性度.较大衰减量的衰减模块采用电感进行补偿,以减小附加相移.仿真结果显示,该衰减器插入损耗最小为6.1dB,最大为12.6dB,各状态衰减量均方根小于0.5dB,附加相移均方根小于3.4°,中心频率处1dB压缩点为14.13dBm.
张岩龙庄奕琪李振荣任小娇齐增卫杜永乾李红云
关键词:衰减器CMOS开关
共1页<1>
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