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孙红芳

作品数：1 被引量：6H指数：1
供职机构：清华大学材料科学与工程系更多>>
相关领域：电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电气工程

主题

  • 1篇射频
  • 1篇复磁导率
  • 1篇磁导
  • 1篇磁导率
  • 1篇磁性
  • 1篇磁性薄膜

机构

  • 1篇清华大学

作者

  • 1篇勾焕林
  • 1篇孙红芳

传媒

  • 1篇实验技术与管...

年份

  • 1篇2006
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
利用阻抗／材料分析仪测量磁性薄膜的复磁导率被引量：6
2006年
该文提出了一种新的高频复磁导率的测试方法.首先确定E4991A射频阻抗/材料分析仪的测量原理为单线圈法,在此基础上推导出了测量有衬底磁性薄膜复磁导率所适用的公式.在实际测试过程中,将衬底放入夹具中作夹具短路补偿,减小了由衬底带来的误差;通过反复验证,弄清了系统提供的阻抗值表示的意义,并据此对磁导率的计算公式进行了修正,最后给出了磁性薄膜复磁导率的测量结果.实验表明,该方法简便易行,所得数据与文献中同类薄膜的测量数据基本符合.
孙红芳勾焕林
关键词：复磁导率磁性薄膜射频
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