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文俊

作品数：1 被引量：0H指数：0
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相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇低功耗
  • 1篇低功耗测试
  • 1篇扫描测试
  • 1篇可测性
  • 1篇可测性设计
  • 1篇功耗
  • 1篇功耗测试
  • 1篇全扫描测试

机构

  • 1篇北京城市学院
  • 1篇湖南大学
  • 1篇北京东华合创...

作者

  • 1篇刘先霞
  • 1篇尤志强
  • 1篇高清华
  • 1篇文俊

传媒

  • 1篇湖南大学学报...

年份

  • 1篇2008
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
一种基于哑元的扩展相容性扫描树方法
2008年
尽管扩展相容性扫描树技术可以彻底地降低测试应用时间和平均测试功耗,扫描输出的个数却大大增加.这使得测试响应的数据量增加,从而为测试响应压缩带来困难.本文提出一种基于哑元的扩展相容性扫描树方法.在这种方法里,为了不破坏未移动的扫描单元之间的关系,在移动扫描单元时一些没有实际意义的扫描单元被加进来.此方法有效地降低了电路的扫描输出个数.从而降低了测试响应数据量,节省了许多数据压缩的硬件.实验结果展示了我们的方法在保持改进的扩展相容性方法的优点的同时,扫描输出的个数比原始的扩展相容性方法有显著的降低,对于ISCAS’89的部分电路,扫描输出的个数最大降低了26.0%.
刘先霞高清华文俊尤志强
关键词：可测性设计全扫描测试低功耗测试
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