汪张超
- 作品数：23 被引量：17H指数：3
- 供职机构：中国电子科技集团公司第四十三研究所更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程金属学及工艺更多>>
- 混合集成DC/DC变换器内的VDMOS应用可靠性研究
- 本文介绍了VDMOS器件在混合集成DC/DC变换器中的组装环境和电路应用环境两个方面的退化和失效机理。首先关注组装结构中的键合和焊接的失效机理，并简述了相应的评估方法;其次分析了VDMOS器件在DC/DC电路中的电压和电...
- 汪张超鲍恒伟沈磊陈琳朱建林
- 关键词：可靠性分析
- 基于电学法对二维多芯片组件的热阻矩阵研究被引量：1
- 2021年
- 高密度组装导致MCM芯片间热耦合效应增加,结温增加来自芯片自发热和热耦合效应。该文以调宽功放的多个功率管为研究对象,关注多芯片的热耦合效应,基于电学方法确定热阻矩阵,通过理论计算获得芯片稳态工作温度。并通过红外热像试验验证模型计算的结果。基于热阻矩阵模型分析不同条件下的芯片温升。
- 汪张超刘安吕红杰
- 关键词：多芯片组件半导体技术VDMOS
- 基于Coffin-Manson模型评价一种过渡件焊接结构的可靠性被引量：3
- 2019年
- 对温度循环条件下某过渡焊接结构的疲劳失效行为进行了研究。基于Coffin-Manson疲劳失效模型,设计温度循环强化应力试验,考察焊锡量对该过渡焊接结构焊点可靠性的影响。通过焊点接触电阻测试、剖面微观结构分析明确该过渡焊接结构疲劳失效过程。研究结果表明:焊锡量适中的该过渡件焊接结构焊点可靠性最优,在500次温度循环条件下未发生开路现象。该文的研究内容对提高该种过渡焊接结构在产品中的应用可靠性具有指导意义。
- 吕红杰江国栋汪张超
- 关键词：温度循环可靠性
- 一种混合集成DC/DC变换器的可靠性强化试验
- 2019年
- 该文介绍了可靠性强化试验的基本概念和意义,以一种混合集成DC/DC变换器为研究对象,分析了产品质量影响因素,通过实际的可靠性强化试验阐述了产品工作极限的确定方法,得到了试验结论,并为同类产品可靠性设计提供依据。
- 何超计恩荣汪张超
- 关键词：DC/DC变换器可靠性强化试验
- 功率循环条件下厚膜组装VDMOS的热阻结构函数分析被引量：3
- 2017年
- 该文以混合集成VDMOS管为对象进行功率循环试验,将温循试验后的热阻变化进行对比分析。首先基于结构函数对VDMOS样品的热阻变化的因素进行分析。其次利用有限元分析法计算模块中各部分温度分布情况,并对比模块内部各层温度随时间的变化状态。最后结合Coffin-Manson关系外推不同温度变化条件下的循环次数。
- 汪张超朱雨生周斌刘俊夫
- 关键词：结构函数VDMOS
- 混合集成电路内键合失效模式及机理分析被引量：3
- 2020年
- 整机小型化的发展对混合集成电路提出了更高的可靠性要求。该文通过对典型案例的介绍,阐述了混合集成电路键合失效机理、预防措施,以及键合退化失效的寿命评估方法。
- 江国栋汪张超何超吕红杰
- 关键词：键合工艺混合集成电路
- 一种开关电源欠压保护电路
- 本发明公开了电源欠压保护领域的一种开关电源欠压保护电路，包括比较电路、窗口设置开关电路以及保护开关电路，比较电路输入端连接基准信号与通过分压电阻获取的欠压采样信号，其输出端输出对比信号，窗口设置开关电路用于接收对比信号以...
- 刘安徐光显解光庆陈波汪张超
- 文献传递
- 一种开关电源欠压保护电路
- 本实用新型公开了电源欠压保护领域的一种开关电源欠压保护电路，包括比较电路、窗口设置开关电路以及保护开关电路，比较电路输入端连接基准信号与通过分压电阻获取的欠压采样信号，其输出端输出对比信号，窗口设置开关电路用于接收对比信...
- 刘安徐光显解光庆陈波汪张超
- 文献传递
- 一种简单磁隔离反馈电路
- 本发明公开了开关电源领域的一种简单磁隔离反馈电路，包括磁隔离变压器T2，磁隔离变压器T2的原边连接有对直流电压斩波成脉冲信号电压的斩波电路，副边连接有对脉冲信号整流滤波并采集取样信号的整流取样电路，整流取样电路与脉宽调制...
- 刘安汪张超郑欣然
- 文献传递
- 厚膜组装VDMOS在功率循环下的失效特征和机理
- 2020年
- 该文以厚膜组装VDMOS为对象进行功率循环试验,采用X射线、切金相剖面分析和热阻分析等方法对试验后样品进行了对比。分析厚膜组装各封装界面随时间的退化的特征,并分析了其退化机理。其次利用有限元分析法计算模块中各部分温度分布情况,最后结合Coffin-Manson关系外推不同温度变化条件下的循环次数。
- 汪张超江国栋吕红杰何超
- 关键词：VDMOS
