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梅霜

作品数:7 被引量:26H指数:3
供职机构:河北工业大学电气工程学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金河北省科技计划项目国家科技支撑计划更多>>
相关领域:电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 7篇中文期刊文章

领域

  • 6篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 4篇损耗
  • 3篇开关损耗
  • 3篇功率模块
  • 3篇IGBT
  • 3篇IGBT模块
  • 2篇神经网
  • 2篇神经网络
  • 2篇SVM
  • 1篇电气
  • 1篇电气参数
  • 1篇支持向量
  • 1篇支持向量机
  • 1篇损耗计算
  • 1篇损耗模型
  • 1篇热阻
  • 1篇温度循环
  • 1篇向量
  • 1篇向量机
  • 1篇小样本
  • 1篇门极

机构

  • 7篇河北工业大学

作者

  • 7篇李志刚
  • 7篇梅霜
  • 2篇姚芳
  • 2篇张亚玲
  • 2篇陈红纳
  • 1篇王少杰
  • 1篇刘向向
  • 1篇田盛

传媒

  • 3篇电子技术应用
  • 1篇太阳能学报
  • 1篇西北大学学报...
  • 1篇电子器件
  • 1篇现代电子技术

年份

  • 2篇2017
  • 5篇2016
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
IGBT模块键合线故障与门极杂散阻抗的关系研究被引量:2
2016年
键合线脱落是IGBT芯片一种普遍的失效形式,铝键合线故障在一定程度上会影响门极杂散阻抗。杂散阻抗的改变又会引起门极电信号的变化,因此通过门极测量信号的变化来表征其杂散阻抗的改变,进而判断IGBT芯片是否发生铝键合线脱落故障。对门极杂散阻抗与键合线故障之间的关系进行了研究,为识别IGBT模块铝键合线故障提供了依据。
陈红纳李志刚梅霜田盛
关键词:IGBT
基于饱和压降测量的功率模块老化模型研究
2017年
通过研究老化对功率模块IGBT状态参量的影响,提出一种基于功率模块IGBT的饱和压降测量的老化研究方法,即分别通过BP神经网络和支持向量机(SVM)对不同老化程度下、不同外电路条件下的饱和压降老化数据进行建模。建立老化模型可有效辨识IGBT模块内部老化程度,从而避免模块的完全失效及由此造成的装置损坏。
李志刚梅霜陈红纳刘向向
关键词:IGBT神经网络
IGBT模块电气参数测试及分析被引量:3
2016年
针对不同集电极电流及开关频率下的开关过程设计并搭建了IGBT电气参数测试系统。试验测录了IGBT模块在开关过程中的电压、电流波形,对电压、电流波形进行数据处理,得到IGBT模块的开关时间和开关损耗;根据对IGBT模块的开关损耗进行分析,得到IGBT模块的开关损耗在随着集电极电流和开关频率变化的规律。
梅霜李志刚姚芳张亚玲
关键词:IGBT模块开通时间关断时间关断损耗
基于神经网络的功率模块开关损耗预测被引量:2
2016年
功率半导体器件的开关损耗的准确预测和评估对研究系统设计、选择合适的散热系统和提高系统的可靠性都是很重要的。采用功率半导体器件的开关动态测试系统,可以自动调整直流母线电压、集电极电流、门极驱动电压和开关频率,记录开关动态电压、电流波形,计算获得大量的损耗数据。通过建立人工神经网络模型对开关损耗预测,并改变模型参数进行分析与研究,获取最佳模型。
李志刚梅霜
关键词:功率模块开关损耗神经网络
温度循环下IGBT热阻退化模型的研究被引量:3
2016年
绝缘栅双极型晶体管(IGBT)在工作过程中经常要承受过热和较大的温度波动,当热损伤达到一定的程度时,模块极有可能出现失效,从而带来巨大损失。首先从理论上分析了IGBT的失效机理,然后利用热阻测试平台和加速老化实验平台测得IGBT热阻在温度循环冲击下的退化情况,最后根据实验结果建立IGBT热阻退化数学模型,得出热阻的退化规律。
李志刚张亚玲梅霜
关键词:IGBT热阻温度循环
小样本数据下功率模块开关损耗模型研究被引量:1
2017年
在研究新能源系统可靠性时,功率模块IGBT的开关损耗的准确预测是非常重要的。采用功率模块的开关动态测试系统进行试验,可以自动调整直流母线电压、集电极电流、门极驱动电压和门极电阻,记录开关动态电压、电流波形,通过处理获取精确的开关损耗值。基于试验数据的基础上,通过SVM算法建立开关损耗模型,改善了现有的基于小样本数据的开关损耗模型。
梅霜李志刚
关键词:功率模块开关损耗SVM小样本
IGBT模块开关损耗计算方法综述被引量:18
2016年
IGBT模块开关损耗计算方法有基于物理方法的损耗计算法和基于数学方法的损耗计算法。基于物理方法的损耗计算是采用软件仿真的办法建立相应的物理模型得到开关动态波形,计算损耗;基于数学方法的损耗计算是采用各种数学的方法建模,计算损耗。对各种开关损耗计算法进行讨论,并给出其相应的优缺点。
李志刚梅霜王少杰姚芳
关键词:IGBT模块开关损耗损耗计算损耗模型
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