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杨洁青

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：北京航空航天大学中法工程师学院更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇电磁检测
  • 1篇综合孔径
  • 1篇综合孔径辐射...
  • 1篇近场
  • 1篇分辨率
  • 1篇干涉式
  • 1篇成像
  • 1篇成像研究

机构

  • 1篇北京航空航天...

作者

  • 1篇白明
  • 1篇杨洁青
  • 1篇欧乃铭
  • 1篇张新宇

传媒

  • 1篇电子测量技术

年份

  • 1篇2013
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
用于电磁检测的综合孔径辐射计成像研究被引量：1
2013年
干涉式综合孔径被动辐射计成像技术广泛应用于被动式毫米波成像。就综合孔径成像的基本原理进行了介绍,但应用于近场成像时综合孔径被动成像算法失效。主要分析了综合孔径成像的远场算法,针对远场算法中亮温函数与可适度函数之间存在的傅里叶变换对的关系,通过对亮温函数进行校正,使其与可视度函数仍存在傅里叶变换对的关系,满足近场计算条件。同时,就其应用于电磁检测的具体技术细节及分辨率进行了分析讨论。根据近场校正算法进行仿真,并对成像结果进行了分析。
杨洁青欧乃铭张新宇白明
关键词：近场电磁检测分辨率
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