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纪黎

作品数:3 被引量:3H指数:1
供职机构:苏州有色金属研究院更多>>
相关领域:金属学及工艺一般工业技术更多>>

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 2篇金属学及工艺
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 3篇合金
  • 2篇亚共晶
  • 2篇中间合金
  • 2篇铸锭
  • 2篇铝硅
  • 2篇铝硅合金
  • 2篇共晶
  • 2篇共晶铝硅合金
  • 2篇硅合金
  • 2篇
  • 1篇能谱
  • 1篇偏析
  • 1篇铸锭组织
  • 1篇铝合金
  • 1篇铝合金铸锭
  • 1篇晶粒
  • 1篇晶粒细化
  • 1篇晶粒细化效果
  • 1篇共晶硅
  • 1篇合金铸锭

机构

  • 3篇苏州有色金属...

作者

  • 3篇李新涛
  • 3篇纪黎
  • 2篇吴永福
  • 2篇朱光磊

传媒

  • 1篇特种铸造及有...

年份

  • 1篇2016
  • 2篇2014
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
亚共晶和共晶铝硅合金变质及细化的方法
本发明涉及亚共晶和共晶铝硅合金变质及细化的方法,以Sr和B对硅含量为2~13.5wt.%的亚共晶和共晶铝硅合金进行变质及细化处理,处理后,使合金熔体中的Sr含量为0.005~0.1%,B含量为0.005~0.1%,Sr与...
长海博文朱光磊吴永福李新涛纪黎
文献传递
4032铝合金铸锭偏析层厚度的检测方法被引量:3
2014年
分别采用金相法、扫描电镜EDX能谱、光电直读光谱法测试4032铝合金铸锭表面偏析层厚度。结果发现,采用光电直读光谱法虽能准确检测出偏析层厚度,但检测过程繁琐且检测费用较高;而采用扫描电镜EDX法很难准确地检测出偏析层厚度;采用金相法能简单、快速地检测出偏析层厚度,铸锭表面到粗大α-Al树枝晶的距离即为偏析层厚度。
朱光磊长海博文李新涛纪黎
亚共晶和共晶铝硅合金变质及细化的方法
本发明涉及亚共晶和共晶铝硅合金变质及细化的方法,以Sr和B对硅含量为2~13.5wt.%的亚共晶和共晶铝硅合金进行变质及细化处理,处理后,使合金熔体中的Sr含量为0.005~0.1%,B含量为0.005~0.1%,Sr与...
长海博文朱光磊吴永福李新涛纪黎
共1页<1>
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