马峥
- 作品数：17 被引量：2H指数：1
- 供职机构：山东大学更多>>
- 发文基金：国家重点实验室开放基金山东省自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
- 相关领域：理学电子电信机械工程金属学及工艺更多>>
- 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置及测量方法
- 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置及测量方法，属广义椭偏测量技术领域。装置包括激光光源、光路系统、锁相放大器和PC机等，其特征在于光路系统由斩波器、光阑、起偏器、样品台、检偏器、光阑、滤光片和探测器按前后顺序排列组成；...
- 连洁宋平薛其坤王晓钟浩然李萍高尚马峥吴仕梁王英顺
- 退火对6H-SiC晶体的光学性质及光致发光的影响被引量：1
- 2010年
- 利用双光束分光光度计对高温退火前后的掺氮和未掺杂6H-SiC晶体的透射及反射谱进行了分析,发现无论退火前后,两种SiC晶体在紫外区均存在强烈的吸收。在可见和近红外区,尤其是未掺杂SiC样品具有很高的透射率,退火后,两种样品的透射率均明显提高。利用荧光分光光度计研究了退火前后样品的光致发光特性,结果表明:在390 nm Xe灯激发下,两种样品在417 nm和436 nm处均可观察到蓝光发射,417 nm处的发光归结于C簇的发光,436 nm处的发光机理为从晶粒的核心激发载流子转移到晶粒表面,并与其上的发光中心辐射复合;同时,掺氮SiC在575 nm处还存在发光峰,为氮掺入后引起的非晶SiC的发光,在325 nm Xe灯激发下,525 nm处存在发光峰,其详细发光机制有待进一步研究。
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- 关键词：光学性质光致发光
- 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的测量方法
- 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置及测量方法，属广义椭偏测量技术领域。装置包括激光光源、光路系统、锁相放大器和PC机等，其特征在于光路系统由斩波器、光阑、起偏器、样品台、检偏器、光阑、滤光片和探测器按前后顺序排列组成；...
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- 文献传递
- 一种pH刺激响应型自修复涂层制备和防腐性能研究
- 刘雪辉马峥温哲华侯保荣
- 一种磁光椭偏测量装置及测量方法
- 一种磁光椭偏测量装置及测量方法，属磁性材料的磁光测量技术领域，装置由电源、激光光源、光路系统、电磁铁、PC机组成，利用上述装置可进行磁光椭偏的测量。本发明的特点如下：(1)光路中加入分光计可以精确测量入射角，由于分光计测...
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- 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置
- 利用锁相放大器进行磁光椭偏测量的装置，属广义椭偏测量技术领域。该装置包括激光光源、光路系统、锁相放大器和PC机等，其特征在于光路系统由斩波器、光阑、起偏器、样品台、检偏器、光阑、滤光片和探测器按前后顺序排列组成；光路系统...
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- 文献传递
- PECVD法生长SiO2薄膜工艺优化
- SiO2薄膜具有绝热性好、光透过率高、抗腐蚀能力强、良好的介电性质等特点,SiO2薄膜已广泛应用在制作电子器件和集成器件、光学薄膜器件、传感器等诸多领域。采用等离子增强型化学气相沉积（PECVD）方法,在GaAs衬底上制...
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- 关键词：PECVD椭偏仪折射率
- 文献传递
- 一种磁光椭偏测量装置及测量方法
- 一种磁光椭偏测量装置及测量方法，属磁性材料的磁光测量技术领域，装置由电源、激光光源、光路系统、电磁铁、PC机组成，利用上述装置可进行磁光椭偏的测量。本发明的特点如下：(1)、光路中加入分光计可以精确测量入射角，由于分光计...
- 连洁宋平薛其坤王晓李萍高尚马峥吴仕梁
- 文献传递
- 一种紫外可见近红外旋光率的测量装置及其测量方法
- 一种紫外可见近红外旋光率的测量装置及其测量方法，属于光谱式旋光率测量领域，装置包括稳压电源、光源、准直分光部分与检测系统，其特征在于光源后面放置准直分光部分，准直分光部分后面连接检测系统；检测系统包括光电探测器、锁相放大...
- 连洁吴仕梁官文栎宋平高尚马峥王晓王英顺张华年
- 一种紫外可见近红外旋光率的测量装置及其测量方法
- 一种紫外可见近红外旋光率的测量装置及其测量方法，属于光谱式旋光率测量领域，装置包括稳压电源、光源、准直分光部分与检测系统，其特征在于光源后面放置准直分光部分，准直分光部分后面连接检测系统；检测系统包括光电探测器、锁相放大...
- 连洁吴仕梁官文栎宋平高尚马峥王晓王英顺张华年
- 文献传递
