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文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 1篇氧化硅
  • 1篇荧光
  • 1篇铁矿
  • 1篇硼镁铁矿
  • 1篇稀盐酸
  • 1篇内控
  • 1篇混酸
  • 1篇过氧化钠
  • 1篇多元素同时测...
  • 1篇二氧化硅
  • 1篇粉末压片
  • 1篇粉末压片法
  • 1篇白液
  • 1篇比色
  • 1篇比色皿
  • 1篇X射线
  • 1篇X射线荧光
  • 1篇标样

机构

  • 2篇鞍钢股份有限...

作者

  • 2篇张勋
  • 2篇赵竞泽
  • 2篇王晓旭
  • 2篇张丽丽
  • 2篇陈英丽
  • 2篇张辉
  • 2篇雷学斌
  • 1篇田秀梅
  • 1篇邱蒙
  • 1篇韩丽丽
  • 1篇王炳琨

年份

  • 1篇2017
  • 1篇2016
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种快速测定二氧化硅的方法
本发明涉及一种快速测定二氧化硅的方法,该方法包括试样制备、试样分析过程,将用于化学分析的<100目的试样用过氧化钠熔融,以水将熔融物冲洗于盛有盐酸的烧杯中溶解,定容后分取试液置于容量瓶中,加稀盐酸、钼酸铵溶液,混匀,放置...
赵竞泽王晓旭田秀梅王炳琨张勋桑妍张丽丽雷学斌张辉陈英丽
文献传递
一种X射线荧光粉末压片法分析硼镁铁矿的方法
一种X射线荧光粉末压片法分析硼镁铁矿的方法,包括以下步骤:1)用已知各元素含量的硼镁铁矿建立标准曲线:采用X射线荧光光谱仪测定样片元素发射强度,利用对一系列内控标样测量得到各元素的发射强度,结合各元素在试样中的质量百分含...
赵竞泽王晓旭邱蒙张勋桑妍张丽丽陈英丽韩丽丽雷学斌张辉
文献传递
共1页<1>
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