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李萍

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：中国赛宝实验室更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇静电放电
  • 1篇静电损伤
  • 1篇ESD

机构

  • 1篇中国赛宝实验...

作者

  • 1篇来萍
  • 1篇李萍
  • 1篇郑廷圭

传媒

  • 1篇电子质量

年份

  • 1篇2003
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排序方式：
AS169微波开关电路的失效原因分析
2003年
本文介绍了对AS169型微波开关电路进行的失效分析。采用了直流测试、射频测试、样品解剖、芯片观察、电路分析以及实验验证等一系列技术手段,成功地确定了样品的失效原因是:在装配和测试阶段因静电放电(ESD)而导致电路损伤和失效。
来萍李萍郑廷圭
关键词：静电放电ESD静电损伤
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