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张毅晖
作品数:
6
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供职机构:
浙江大学
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相关领域:
自动化与计算机技术
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合作作者
杨甬英
浙江大学
吴凡
浙江大学
闫凯
浙江大学
周林
浙江大学
李晨
浙江大学
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自动化与计算...
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浙江大学
作者
6篇
吴凡
6篇
杨甬英
6篇
张毅晖
4篇
李晨
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周林
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闫凯
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刘东
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李阳
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曹频
2篇
谢世斌
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柴慧婷
年份
1篇
2019
2篇
2018
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2017
1篇
2016
1篇
2015
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高次曲面空间位置自动定中系统和方法
本发明公开了一种高次曲面空间位置自动定中系统和方法。本发明的技术特点在于对高次曲面光学元件顶点曲率半径以及顶点曲率中心位置坐标进行测量,实现待测高次曲面光学元件检测姿态的初始化调整与参数测量。高次曲面自动定中系统包括高次...
杨甬英
周林
张毅晖
柴惠婷
李晨
吴凡
闫凯
文献传递
高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法
本发明公开了一种高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法。本发明包括如下步骤:优化子孔径扫描路径并确定子孔径空间位置分布;基于显微散射暗场成像原理采集平面子孔径图像;通过高次曲面三维子孔径矫正重构子孔径高次曲面三维图像;利...
杨甬英
吴凡
李晨
张毅晖
柴慧婷
闫凯
周林
文献传递
应用于球面光学元件表面缺陷检测的球面自动定中方法
本发明公开了一种应用于球面光学元件表面缺陷检测的球面自动定中方法。本发明包括如下步骤:初始化球面定中单元,然后将球面光学元件移动至初始位置;Z方向进行扫描,并在扫描的过程中利用图像熵清晰度评价函数找到最清晰的十字叉丝像;...
杨甬英
刘东
张毅晖
李阳
柴惠婷
吴凡
曹频
谢世斌
熊浩亮
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高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法
本发明公开了一种高次曲面光学元件表面缺陷的定量检测方法。本发明包括如下步骤:优化子孔径扫描路径并确定子孔径空间位置分布;基于显微散射暗场成像原理采集平面子孔径图像;通过高次曲面三维子孔径矫正重构子孔径高次曲面三维图像;利...
杨甬英
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高次曲面空间位置自动定中系统和方法
本发明公开了一种高次曲面空间位置自动定中系统和方法。本发明的技术特点在于对高次曲面光学元件顶点曲率半径以及顶点曲率中心位置坐标进行测量,实现待测高次曲面光学元件检测姿态的初始化调整与参数测量。高次曲面自动定中系统包括高次...
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应用于球面光学元件表面缺陷检测的球面自动定中方法
本发明公开了一种应用于球面光学元件表面缺陷检测的球面自动定中方法。本发明包括如下步骤:初始化球面定中单元,然后将球面光学元件移动至初始位置;Z方向进行扫描,并在扫描的过程中利用图像熵清晰度评价函数找到最清晰的十字叉丝像;...
杨甬英
刘东
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