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刘方方

作品数:2 被引量:6H指数:1
供职机构:合肥工业大学更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇刻蚀
  • 1篇正交
  • 1篇正交实验
  • 1篇深刻蚀
  • 1篇微机电系统
  • 1篇温度传感器
  • 1篇刻蚀工艺
  • 1篇机电系统
  • 1篇工艺参
  • 1篇工艺参数
  • 1篇硅深刻蚀
  • 1篇感器
  • 1篇ICP
  • 1篇ICP刻蚀
  • 1篇MEMS
  • 1篇传感
  • 1篇传感器
  • 1篇垂直度
  • 1篇电系统

机构

  • 2篇合肥工业大学
  • 1篇中国兵器工业...

作者

  • 2篇刘方方
  • 1篇许高斌
  • 1篇展明浩
  • 1篇黄斌

传媒

  • 1篇微纳电子技术

年份

  • 2篇2015
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
MEMS温度传感器中ICP刻蚀技术研究
随着MEMS传感器应用越来越普及,在对其加工工艺的要求也在不断提高。作为MEMS器件加工的一项关键技术—ICP刻蚀技术,因其刻蚀过程自动化程度高、刻蚀侧壁垂直度好、大面积刻蚀均匀性好及污染少等优点,目前被广泛应用于体硅M...
刘方方
关键词:刻蚀工艺微机电系统温度传感器
ICP硅深刻蚀槽壁垂直度的研究被引量:6
2015年
电感耦合等离子体(ICP)刻蚀技术是体硅深加工的一项关键技术。介绍了ICP刻蚀技术的相关概念与方法,在对Si(100)进行大量深刻蚀实验的基础上,深入分析刻蚀∕钝化周期、极板功率、SF6/C4F8气体流量和腔室压力等主要工艺参数对刻蚀侧壁垂直度的影响。通过对ICP刻蚀的刻蚀∕钝化周期和极板功率参数进行正交实验,给出了通用槽宽分别为2,5和10μm时的优化工艺参数,成功实现了三个垂直度达(90±0.02)°、高深宽比≥10、侧壁光滑的深槽结构。将优化后的工艺参数用于某陀螺仪的刻蚀实验,获得了理想的刻蚀形貌。
刘方方展明浩许高斌黄斌管朋
关键词:工艺参数正交实验
共1页<1>
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