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叶蓉

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：哈尔滨工业大学更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 3篇抗辐射
  • 2篇设计方法
  • 2篇偏压
  • 2篇负偏压温度不...
  • 2篇擦除
  • 2篇存储器
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子效应
  • 1篇电路
  • 1篇锁相
  • 1篇锁相环
  • 1篇锁相环设计
  • 1篇锁相技术
  • 1篇准确率
  • 1篇芯片
  • 1篇芯片设计
  • 1篇可靠性
  • 1篇可靠性评估
  • 1篇集成电路

机构

  • 3篇哈尔滨工业大...

作者

  • 3篇叶蓉
  • 2篇柳姗姗
  • 2篇王天琦
  • 2篇肖立伊
  • 2篇曹雪兵

年份

  • 1篇2017
  • 2篇2015
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
负偏压温度不稳定性影响下存储器抗多位翻转可靠性评估模型的设计方法
负偏压温度不稳定性影响下存储器抗多位翻转可靠性评估模型的设计方法，涉及抗辐射加固电路领域，具体涉及一种存储器在多位翻转效应下可靠性评估模型的设计方法。为了解决现有的存储器抗多位翻转可靠性评估模型设计方法设计出的模型评估准...
肖立伊柳姗姗曹雪兵王天琦叶蓉
可编程抗辐射锁相环设计
目前，锁相环在电子系统中占有不可或缺的地位。为了使锁相环适应微处理器的发展，改进锁相环的分频数量和拓宽信号频率范围成为必然的趋势。同时，随着航天技术的发展，微处理器早已经应用到复杂的空间环境中。目前，在集成电路制造工艺尺...
叶蓉
关键词：集成电路芯片设计锁相技术单粒子效应
负偏压温度不稳定性影响下存储器抗多位翻转可靠性评估模型的设计方法
负偏压温度不稳定性影响下存储器抗多位翻转可靠性评估模型的设计方法，涉及抗辐射加固电路领域，具体涉及一种存储器在多位翻转效应下可靠性评估模型的设计方法。为了解决现有的存储器抗多位翻转可靠性评估模型设计方法设计出的模型评估准...
肖立伊柳姗姗曹雪兵王天琦叶蓉
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