靳硕学
- 作品数：24 被引量：13H指数：2
- 供职机构：中国科学院高能物理研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金湖北省教育厅科学技术研究项目北京市自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学金属学及工艺一般工业技术电子电信更多>>
- 一种X射线多元固体探测器准直和减小空气吸收的装置
- 本实用新型公开了一种X射线多元固体探测器准直和减小空气吸收的装置，其特征在于，包括准直腔体(1)，所述准直腔体(1)的前端设有限光孔(3)，所述准直腔体(1)的侧壁上设有氦气通道(2)；所述准直腔体(1)的后端用于与探测...
- 靳硕学解宏鑫陈栋梁
- 一种应力消除的球面弯曲分析晶体及罗兰圆谱仪
- 本实用新型公开了一种应力消除的球面弯曲分析晶体及罗兰圆谱仪。球面弯曲分析晶体的特征在于，包括多个扇形晶圆结构，所述多个扇形晶圆结构为对一压弯的平面晶圆分割得到的扇形晶圆结构；将各所述扇形晶圆结构键合到衬底上，构成的圆形晶...
- 郭志英徐伟刁千顺张玉骏靳硕学陈栋梁
- FeCu合金中Cu纳米团簇低温正电子捕获增强效应研究
- 材料中空位型缺陷对正电子具有捕获效应，使正电子湮没谱学技术成为研究材料空位型缺陷的特色工具[1];研究发现材料中非空位型的溶质原子团簇对正电子同样具有捕获效应[2]，并且溶质团簇和正电子的结合能与团簇的大小有关，团簇越小...
- 张鹏靳硕学卢二阳刘晓双于润升曹兴忠王宝义
- 一种高通量X射线微聚焦毛细管半透镜冷却装置
- 本实用新型公开了一种高通量X射线微聚焦毛细管半透镜冷却装置，其特征在于，包括冷源(1)、毛细管夹具(2)；所述冷源(1)通过冷气通道(3)与所述毛细管夹具(2)连接；所述毛细管夹具(2)为一套管，用于容纳夹持待冷却的毛细...
- 靳硕学陈栋梁
- 铁冷轧形变以及热处理对形变缺陷的影响
- 2017年
- 采用常用冷轧设备对铁进行冷轧引入形变缺陷。研究形变量和温度对形变缺陷的影响。形变样品中的微观缺陷、物相结构和形貌分别使用正电子湮没技术(PAT)、X射线衍射仪(XRD)和透射电子显微镜(TEM)进行表征分析。对经过673 K热处理的形变样品前后进行XRD测试,结果显示,随着形变量的增加,样品中晶面方向(200)具有择优生长趋势,673 K热处理后,择优趋势更加明显,同时晶粒的尺寸也增大。利用正电子湮没寿命谱和多普勒展宽能谱对样品中形变缺陷的热力学稳定性进行研究,发现形变引入的空位型缺陷约在673 K回复完毕,723 K后位错缺陷开始回复。
- 龚毅豪靳硕学卢二阳况鹏朱特曹兴忠王宝义
- 关键词：铁X射线衍射
- 硫化温度对ZnS薄膜生长质量的影响被引量：2
- 2017年
- 采用热反应法对玻璃衬底上以磁控溅射制备的Zn薄膜进行硫化,制备出Zn S薄膜。薄膜的微观结构、物相结构和表面形貌分别采用正电子湮没技术(PAT)、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)进行分析和表征。利用慢正电子湮没多普勒展宽对四个不同硫化温度下得到的ZnS薄膜样品中膜层结构缺陷进行研究,测量了薄膜中的空位型微观缺陷的相对浓度,指出445℃硫化样品中正电子注入能量在1.5～4.5 keV后S参数最小,说明该硫化温度下反应生成的ZnS薄膜结构缺陷浓度最小,膜的致密度最高。XRD结果显示薄膜在445℃以上硫化后,呈(111)择优生长趋势。从扫描电镜的结果也可以看出,在445℃硫化后,薄膜的晶粒明显地变得更大、更致密,这是因为ZnS晶胞比Zn晶胞大以及硫化过程中ZnS固相再结晶的缘故。
- 宋力刚朱特曹兴忠张仁刚况鹏靳硕学张鹏龚毅豪王宝义
- 关键词：硫化锌薄膜磁控溅射硫化
- 基于反符合的用于探测正电子湮没的方法及系统
- 本申请公开一种基于反符合的用于探测正电子湮没的方法及系统。该方法包括：利用放射源产生正电子，所述正电子包括进入样品的第一正电子和进入闪烁片的第二正电子；获取正电子湮没产生的伽马光子信号，所述伽马光子信号包括所述第一正电子...
- 王宝义况鹏曹兴忠张鹏靳硕学李崇魏龙
- 文献传递
- 一种从微米到毫米分辨的双视场同轴显微光学系统
- 本实用新型公开了一种从微米到毫米分辨的双视场同轴显微光学系统，其特征在于，包括光学显微镜(1)、工业相机(2)、光学聚焦元件(3)、分光片(4)和三维移动样品台(5)；光学聚焦元件(3)用于将X射线聚焦到待扫描的样品上；...
- 靳硕学陈栋梁
- 铁冷轧形变以及热处理对形变缺陷的影响
- 采用常用冷轧设备对铁进行冷轧引入形变缺陷。研究形变量和温度对形变缺陷的影响。形变样品中的微观缺陷、物相结构和形貌分别使用正电子湮没技术(PAT)、X射线衍射仪(XRD)和透射电子显微镜(TEM)进行表征分析。对经过673...
- 龚毅豪靳硕学卢二阳况鹏朱特曹兴忠王宝义
- 关键词：铁X射线衍射
- 铁基合金中微观缺陷和Cu相互作用的研究
- 核反应堆用不锈钢中辐照缺陷和Cu析出会引起材料的硬化和脆化[1],严重时还会导致材料的微裂纹和断裂现象。由于Cu在α-Fe中的溶解度非常低,因此高能带电离子辐照或高温热时效都可以导致Cu析出,如图1是中子辐照和高温时效导...
- 靳硕学卢二阳张鹏龚毅豪于润升曹兴忠王宝义
