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王鑫

作品数：9 被引量：0H指数：0
供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
发文基金：北京市优秀人才培养资助更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇专利
  • 3篇期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇电池
  • 2篇电池系统
  • 2篇电池组
  • 2篇电路
  • 2篇电子镇流器
  • 2篇动力电池
  • 2篇动力电池组
  • 2篇信号
  • 2篇压控
  • 2篇压控振荡器
  • 2篇振荡频率
  • 2篇振荡器
  • 2篇镇流器
  • 2篇晶体管
  • 2篇控制系统
  • 2篇集成电路
  • 2篇功率
  • 2篇功率调节
  • 2篇反相器
  • 2篇非接触

机构

  • 9篇北京自动测试...
  • 1篇北方工业大学

作者

  • 9篇王鑫
  • 6篇姜岩峰
  • 5篇张东
  • 5篇于明
  • 4篇李杰
  • 2篇高剑
  • 2篇赵雪莲
  • 2篇李力军
  • 1篇鞠家欣
  • 1篇韩兵兵
  • 1篇冯建科
  • 1篇张东
  • 1篇马新国

传媒

  • 3篇电子测试

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 2篇2013
  • 2篇2012
  • 2篇2011
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
用于动力电池组的非接触式分布控制系统
本发明公开了一种用于动力电池组的非接触式分布控制系统，包括电池控制系统和多个电池控制单元；多个所述电池控制单元通过非接触式数据传输方式与所述电池控制系统进行通信；所述电池控制单元采集所连接的电池单元的状态数据，发送至所述...
姜岩峰张东高剑于明李杰王鑫
文献传递
一种功率可控的电子镇流器
本发明公开了一种功率可控的电子镇流器，通过调节压控振荡器的振荡频率实现对荧光灯的功率控制。该压控振荡器由第一比较器、第二比较器、RS触发器、第一反相器、第二反相器以及充放电模块组成。本发明所提供的电子镇流器能够使荧光灯的...
姜岩峰张东于明李杰赵雪莲王鑫
文献传递
一种制作大功率场效应晶体管的方法
本发明公开了一种制作大功率场效应晶体管的方法，包括如下的步骤：步骤1：在第一n型硅片上进行第一次外延，生长阳极区域P+；步骤2：进行选择性离子注入和扩散，形成栅区P+；步骤3：取第二n型硅片，通过硅-硅直接键合，在栅极上...
姜岩峰张东鞠家欣韩兵兵王鑫
文献传递
一种集成电路测试用程控信号源的设计
2013年
针对目前集成电路测试系统中交流参数的测试现状,提出一种基于PCI总线和直接数字频率合成技术(Direct Digital Synthesize,DDS)的程控信号源设计方案;文章先介绍了整个信号源系统的构成与工作原理,随后详细论述DDS信号发生模块、幅度调节模块等模块的硬件设计;目前该信号源已通过相关部门验收并交付使用,该信号源可满足各种测试环境要求,同时其技术指标也达到了预期设计的精度要求。
王鑫李力军
关键词：DDS
一种功率可控的电子镇流器
本发明公开了一种功率可控的电子镇流器，通过调节压控振荡器的振荡频率实现对荧光灯的功率控制。该压控振荡器由第一比较器、第二比较器、RS触发器、第一反相器、第二反相器以及充放电模块组成。本发明所提供的电子镇流器能够使荧光灯的...
姜岩峰张东于明李杰赵雪莲王鑫
文献传递
用于动力电池组的非接触式分布控制系统
本发明公开了一种用于动力电池组的非接触式分布控制系统，包括电池控制系统和多个电池控制单元；多个所述电池控制单元通过非接触式数据传输方式与所述电池控制系统进行通信；所述电池控制单元采集所连接的电池单元的状态数据，发送至所述...
姜岩峰张东高剑于明李杰王鑫
文献传递
晶体管HFE参数的快速测试方法
2012年
随着国内半导体分立器件生产规模的发展,晶体管生产厂家及使用单位对晶体管测试速度的要求越来越高,而制约测试速度最主要的因素就是HFE参数的测试速度远远达不到现在生产的需要。本文在探讨晶体管HFE参数的通用测试方法不足的基础上,提出晶体管HFE参数先进的快速测试方法。依据此方法并结合现有半导体分立器件测试系统,主要通过硬件配合在测试系统内构造出晶体管HFE参数的快速测试单元,把测试速度由原来的1000ms提高到15ms,实现了从测试方法到技术成果的转化。
马新国李力军王鑫
关键词：HFE
一种集成电路芯片测试接口板
本实用新型公开了一种集成电路芯片测试接口板，在被测集成电路芯片的管脚连接点和测试机通道的连接点之间加入可选择连接模块，将集成电路芯片管脚与测试机通道相连。电源和地呈环形分布在被测集成电路芯片的管脚四周。开发人员通过可选择...
于明冯建科王鑫
文献传递
IEEE1149.4模拟和混合信号测试总线标准
2011年
模拟和混合信号边界扫描标准(IEEE1149.4)是针对电路板级外部分立元件的测试而发展起来的,该标准与IEEE1149.1兼容,另外,在此基础上,IEEE1149.4又增加了两根线,用来控制模拟信号。目前1149.4的标准,不但应用在传统的电路板上,在混合信号集成电路甚至包含混合信号的SoC系统芯片上,都有应用。本文主要描述该测试标准的基本架构,提出系统测量方法及应用实例,希望对于该标准在国内的应用有一定推广意义。
姜岩峰张东王鑫
关键词：混合信号
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