刘猛
- 作品数：6 被引量：12H指数：2
- 供职机构：上海理工大学光电信息与计算机工程学院更多>>
- 发文基金：国家科技支撑计划上海市科学技术委员会资助项目更多>>
- 相关领域：理学自动化与计算机技术电子电信机械工程更多>>
- 增强光电图像传感器紫外探测薄膜的制备被引量：4
- 2009年
- 传统的CCD、COMS等光电成像器件并不响应紫外光,在CCD、CMOS传感器光敏面镀上"紫外—可见"变频薄膜是增强其紫外响应的一种非常有效的方法。Zn2SiO4∶Mn由于粒子直径小,稳定性好,荧光量子效率高等优点,在增强光电器件紫外响应领域有着很广泛的应用前景。实验用"旋涂法"在石英基底上生成Zn2SiO4∶Mn紫外增强薄膜,并对其透射光谱、吸收光谱、激发光谱与发射光谱等光学性质进行测量分析。实验测得薄膜在300 nm以下透过率极低,在300 nm以上透过率很高且平稳;对300 nm以下的光具有很强的吸收,对300 nm以上的光吸收很弱且很平稳;激发峰在265 nm,发射峰在525 nm,即能将紫外光转化为可见光。实验结果表明Zn2SiO4∶Mn薄膜是一种适用于增强CCD等图像传感器紫外响应的紫外增强薄膜。
- 刘猛张大伟谢品倪争技黄元申
- 关键词：图像传感器紫外探测
- 基于Zn_2SiO_4:Mn的紫外探测薄膜的研制被引量：2
- 2009年
- 由于紫外光对硅层的透射深度小于2nm,所以传统的光电探测器件并不响应紫外光。为了增强传统的光电探测器件在紫外波段的探测能力,实用的方法是在传感器光敏面镀上"紫外-可见"变频薄膜,将紫外光转化为可见光。实验用"旋涂法"在石英基底上生成Zn2SiO4Mn紫外探测薄膜,并对其透射光谱、吸收光谱、激发光谱与发射光谱等光学性质进行测量分析。实验测得薄膜在300nm以下透过率极低,在300nm以上透过率很高且平稳;对300nm以下的光具有很强的吸收,对300nm以上的光吸收很弱且很平稳;激发峰在265nm,发射峰在525nm,即能将紫外光转化为可见光。实验结果表明薄膜不仅能将紫外光转化为可见光,实现传统光电探测器件的紫外探测。而且在增强紫外响应的同时不削减其他波段的响应,是一种适用于增强光电图像传感器紫外响应的紫外增强薄膜。
- 黄然李筠刘猛李晓兰
- 关键词：图像传感器紫外探测
- 双轴倾斜角度测量系统设计被引量：5
- 2009年
- 为提高双轴倾斜角度测量系统的测量精度和系统线性度,设计了一种由AVR单片机作为处理器的电解液式高精度双轴倾斜度传感器数据采集与处理系统。利用Atmega 8系列单片机的PC1口和PC2口采集由小角度发生器调节的传感器倾斜角度信息,经过单片机自带的A/D转换模块进行A/D转换,再通过一次平均值滤波处理,最后输出传感器的倾斜角度。实验结果表明:系统能够在±4′范围内以1″的最小分辨率输出仪器倾斜角度数据,灵敏度达到0.2mV/(″)。具有比较好的重复性和线性度。
- 汤国锋刘猛黄卫佳杨永才
- 关键词：AVR单片机双轴倾斜传感器数据采集
- 紫外增强薄膜发射光谱测量中的倍波现象分析
- 2009年
- 紫外探测技术是继激光和红外探测技术之后发展起来的又一军民两用光电探测技术,在普通探测器件光敏面镀上将紫外波段的光转化为可见波段的光的变频薄膜是增强光电探测器紫外响应的主要技术。文章用"旋涂法"制备成像器件紫外增强薄膜,在对紫外增强薄膜的量子转化效率进行测量分析的实验过程中用SP1702紫外可见光栅光谱仪对薄膜的紫外变频效率进行分析,在激发光源为260和280 nm时变频薄膜的发射光谱在520和560 nm附近有较明显的波峰。结合光栅光谱仪的工作原理,对该现象进行了理论分析,得出520和560 nm附近的波峰并非变频薄膜受激发发出的光波,而是光谱测量中产生的倍波现象。从分离重级光谱的角度设计了光谱分级器,以消除光谱测量中倍波现象的影响。
- 刘猛倪争技张大伟黄元申庄松林
- 关键词：紫外发射光谱
- 基于Zn_2SiO_4:Mn的成像器件紫外增强薄膜制备及表征被引量：1
- 2009年
- 在CCD、CMOS等硅基光电成像器件的光敏面镀下变频薄膜将紫外波段的光变为可见波段的光,可实现CCD、CMOS等硅基光电成像器件的紫外响应。考虑Zn2SiO4∶Mn粒子直径小,稳定性好,荧光量子效率高等优点,本文用"旋涂法"在石英基底上生成Zn2SiO4∶Mn紫外增强薄膜,并对其透射光谱、吸收光谱、激发光谱与发射光谱等光学性质进行分析。实验测得薄膜在300 nm以下透过率极低并具有很强的吸收,在300 nm以上透过率很高且吸收很弱;激发峰在260 nm,发射峰在525 nm,可以实现将紫外光转化为可见光。分析了Zn2SiO4∶Mn薄膜的均匀性、厚度、稳定性等物理性质对其变频性能的影响。实验结果表明,利用Zn2SiO4∶Mn薄膜可以有效增强CCD等光电器件的紫外响应,实现光电器件的紫外探测。
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- 关键词：成像器件
