秦晨飞
- 作品数：9 被引量：3H指数：1
- 供职机构：合肥工业大学电子科学与应用物理学院更多>>
- 发文基金：国家教育部博士点基金国家自然科学基金安徽高校省级自然科学研究基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信航空宇航科学技术更多>>
- 检测老化的自适应可配置时序单元
- 针对晶体管老化日益严重导致性能衰退，并最终出现可靠性问题的现状，提出了一种能够检测老化并随老化程度而自适应的时序单元——ASCSE.该结构利用可配置的脉冲式锁存器，分为两种工作模式：检测老化模式和容忍老化模式.通过在脉冲...
- 秦晨飞梁华国刘彦斌黄正峰杨叔寅
- 关键词：晶体管自适应控制
- 抗辐射加固的乘法器电路设计
- 随着器件特征尺寸快速缩小，急剧下降的工作电压使得电路内部节点的关键电荷相应减小，再加上日益加剧的工艺偏差，使得软错误率不断攀升。特别是在航空航天环境下，高能粒子辐射诱发的软错误现已成为影响集成电路可靠性的首要因素。针对这...
- 秦晨飞黄正峰刘彦斌梁华国汪健杨叔寅
- 关键词：电路设计
- 基于多路复用的老化预测电路设计研究
- 随着超大规模集成电路的飞速发展，集成电路的工艺尺寸不断减小，从而使晶体管更容易老化。本文介绍了一种预测老化电路，检测电路中的PMOS管在不工作的情况下关闭，降低了PMOS管的老化速度;主要研究将检测电路应用到多路复用中，...
- 刘彦斌秦晨飞梁华国黄正峰史冬霞
- 关键词：集成电路电路设计多路复用
- 一种对面积开销有效的组合逻辑选择性加固方案被引量：2
- 2010年
- 工艺尺寸进入纳米级后,数字电路的可靠性面临高能粒子效应、延时故障、器件老化等方面的威胁.提高可靠性同时也面临着面积、延时、功耗等方面的挑战.针对高能粒子瞬时效应中影响组合逻辑电路的单事件瞬态(SET),提出一种对面积开销有效的组合逻辑选择性加固方案.ISCAS-89标准电路在45nm Nangate工艺下的实验证明,该方案平均增加11.14%～44.74%的面积开销,可达到50%～99%的可靠性.
- 王俊梁华国黄正峰吴珍妮秦晨飞
- 关键词：组合逻辑可靠性
- 基于功能复用的抗老化BIST设计
- 2013年
- 随着不断缩小的工艺尺寸,NBTI为主导的老化因素对VLSI器件寿命的影响尤为突出。本文针对老化引起的时序违规提出了一种抗老化的结构设计TFM-CBILBO,在一种BIST结构——并发内建逻辑块观察器的基础上,复用了其中原本不工作的时序单元,根据电路老化程度切换工作模式,有效防止时序违规的发生。在UMC0.18μm工艺下的实验结果表明,TFM-CBILBO面积开销为20.53%~3.21%,相比非时序拆借方案时延开销降低40.0%～71.6%。
- 梁华国黄正峰杨叔寅徐辉秦晨飞李志杰
- 关键词：功能复用
- 抗辐射加固的乘法器电路设计
- 随着器件特征尺寸快速缩小,急剧下降的工作电压使得电路内部节点的关键电荷相应减小,再加上日益加剧的工艺偏差,使得软错误率不断攀升。特别是在航空航天环境下,高能粒子辐射诱发的软错误现已成为影响集成电路可靠性的首要因素。针对这...
- 秦晨飞黄正峰刘彦斌梁华国汪健杨叔寅
- 关键词：抗辐射加固乘法器双模冗余三模冗余
- 文献传递
- 基于多路复用的老化预测电路设计研究
- 随着超大规模集成电路的飞速发展,集成电路的工艺尺寸不断减小,从而使晶体管更容易老化。本文介绍一种预测老化电路,检测电路中的PMOS管在不工作的情况下关闭,降低了PMOS管的老化速度;主要研究将检测电路应用到多路复用中,通...
- 刘彦斌秦晨飞梁华国黄正峰史冬霞
- 关键词：多路复用电路设计
- 文献传递
- 检测老化的自适应可配置时序单元
- 针对晶体管老化日益严重导致性能降级，并最终出现可靠性问题的现状，提出了一种能够检测老化并且可以随着老化程度而自适应的时序单元ASCSE。该结构利用可配置的脉冲式锁存器，分为两种工作模式：检测老化模式和容忍老化模式。通过在...
- 李志杰秦晨飞黄正峰汪静徐辉常郝梁华国
- 关键词：晶体管老化现象自适应控制
- 基于内建自测的软错误与老化在线检测被引量：1
- 2012年
- 负偏置温度不稳定性为主的老化会造成时序违规故障及软错误故障。为此,提出软错误与老化在线检测器(SEAOS)。在器件正常工作的情况下,在线检测上述2种故障。复用并发内建逻辑块观察器,使得硬件开销不超过30%。实验结果表明,在0.18μm工艺尺寸下,与经典检测结构相比,SEAOS有较好的检测能力,且硬件开销较少。
- 杨叔寅秦晨飞黄正峰梁华国
- 关键词：复用
