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田宇宏

作品数：2 被引量：3H指数：1
供职机构：烟台大学物理系更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学

主题

  • 2篇全反射
  • 1篇低含量
  • 1篇荧光
  • 1篇荧光分析
  • 1篇灵敏度
  • 1篇敏度
  • 1篇分析技术
  • 1篇高灵敏
  • 1篇高灵敏度
  • 1篇TXRF
  • 1篇X射线荧光
  • 1篇X射线荧光分...

机构

  • 1篇烟台大学
  • 1篇中国科学院近...

作者

  • 2篇田宇宏
  • 1篇邬旭然
  • 1篇郑素华
  • 1篇刘恺

传媒

  • 1篇光谱实验室
  • 1篇核物理动态

年份

  • 1篇1999
  • 1篇1991
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
低含量多元素物质的快速全反射X荧光分析被引量：1
1999年
本文介绍了用全反射Ｘ荧光分析仪对样品量很少、元素含量很低、多元素溶液的分析，测定了从含量最多的Ｎａ（２４３μｇ／ｍＬ）到含量最少的Ｃｕ（０．０６μｇ／ｍＬ）的１２种元素。
田宇宏刘恺邬旭然郑素华王景云马国立
关键词：全反射X射线荧光分析TXRF
全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术被引量：2
1991年
全反射X荧光分析技术,是一种在X 荧光分析技术基础上发展起来的全新的分析技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单。于八十年代中期开始出现商品。
田宇宏
关键词：全反射
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共1页<1>
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