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王卫中

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：中兴通讯股份有限公司更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

主题

  • 2篇数据包
  • 2篇数据卡
  • 2篇频谱
  • 2篇频谱分析
  • 2篇频谱分析仪
  • 2篇屏蔽室
  • 2篇终端
  • 2篇综合测试仪
  • 2篇微波暗室
  • 2篇工位
  • 2篇暗室
  • 2篇备份
  • 2篇备份方法
  • 2篇NV
  • 2篇产品开发周期

机构

  • 4篇中兴通讯股份...

作者

  • 4篇王卫中
  • 2篇李广峰
  • 2篇刘卫刚
  • 2篇李成恩
  • 2篇张亮
  • 2篇李晨阳
  • 2篇郭绪斌

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2009
  • 2篇2008
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
无线数据卡辐射杂散频点测试方法
本发明公开了一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法。现有的无线数据卡辐射杂散频点测试过程中，工程师往往要长时间占用微波暗室一边调试一边测试，对数据卡制造厂家而言其过程耗时长，效率低，费用高。为解决上述问题，本发明包括以下步骤...
李成恩王卫中张亮刘卫刚李广峰郭绪斌
文献传递
终端NV参数备份恢复方法
本发明公开了一种终端NV参数备份恢复方法，解决了现有NV参数备份方法的局限性问题，包括如下步骤：步骤A，将带有NV_ITEM号的数据包传给底层设备；步骤B，将底层设备返回的应答数据包保存到文件中；步骤C，将带有NV_IT...
李晨阳王卫中
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终端NV参数备份恢复方法
本发明公开了一种终端NV参数备份恢复方法，解决了现有NV参数备份方法的局限性问题，包括如下步骤：步骤A，将带有NV_ITEM号的数据包传给底层设备；步骤B，将底层设备返回的应答数据包保存到文件中；步骤C，将带有NV_IT...
李晨阳王卫中
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无线数据卡辐射杂散频点测试方法
本发明公开了一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法。现有的无线数据卡辐射杂散频点测试过程中，工程师往往要长时间占用微波暗室一边调试一边测试，对数据卡制造厂家而言其过程耗时长，效率低，费用高。为解决上述问题，本发明包括以下步骤...
李成恩王卫中张亮刘卫刚李广峰郭绪斌
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